[发明专利]主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试方法、装置及系统

权利要求书

1.一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统，其特征在于，包括电磁信号产生装置、金属箱体及电磁屏蔽效能计算装置；

所述电磁信号产生装置用于产生预设强度电磁波信号，并将所述电磁波信号辐照至所述金属箱体的窗口处；

所述金属箱体为具有安装光学玻璃的窗口的全封闭箱体结构，所述光学玻璃上设置待测透光屏蔽薄膜；所述待测透光屏蔽薄膜的面积不小于所述光学玻璃的面积，以覆盖所述光学玻璃；

所述电磁屏蔽效能计算装置用于采集经所述待测透光屏蔽薄膜屏蔽后所述金属箱体内的电磁波信号强度，并计算其与不经所述待测透光屏蔽薄膜的所述金属箱体内电磁波信号强度的比值，作为所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值。

2.根据权利要求1所述的主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述电磁信号产生装置包括信号发生器、功率放大器及发射天线；

所述信号发生器将产生的信号通过所述功率放大器放大后，馈入所述发射天线的输入端，以使所述发射天线产生电磁波信号辐照至所述窗口处。

3.根据权利要求1所述的主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述电磁屏蔽效能计算装置包括电场强度采集器、场强监视器和效能计算器；

所述电场强度采集器设置在所述金属箱体内部，用于采集所述电磁波信号透射进入所述金属箱体内部的电场强度；

所述场强监视器与所述电场强度采集器相连，用于实时接收所述电场强度采集器发送的电场强度信息；

所述效能计算器用于根据接收到的电场强度信息计算所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值。

4.根据权利要求3所述的主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述效能计算器用于根据下述公式计算所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值：

SE＝E₀/E₁；

式中，SE为所述屏蔽效能值，E₀为设置有所述待测透光屏蔽薄膜的金属箱体内预设位置处的电场强度，E₁为不加所述待测透光屏蔽薄膜的金属箱体内所述预设位置处的电场强度。

5.根据权利要求4所述的主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述电场强度采集器为电场测量探头。

6.根据权利要求5所述的主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述效能计算器还包括电场强度存储器，用于存储所述场强监视器发送的电场强度信息。

7.一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试方法，其特征在于，包括：

获取电磁波信号辐照至金属箱体内，在预设位置处的第一电场强度值；

获取所述电磁波信号经设置有透光屏蔽薄膜的窗口透射至所述金属箱体内后，在所述预设位置处的第二电场强度值；

计算所述第一电场强度值和所述第二电场强度值的比值，作为所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值；

其中，所述金属箱体为具有安装光学玻璃的窗口的全封闭箱体结构，所述待测透光屏蔽薄膜的面积不小于所述光学玻璃的面积，以覆盖所述光学玻璃。

8.一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试装置，其特征在于，包括：

原始电磁波强度值获取模块，用于获取电磁波信号辐照至金属箱体内，在预设位置处的第一电场强度值，所述金属箱体为具有安装光学玻璃的窗口的全封闭箱体结构；

电磁屏蔽后的电磁波强度值获取模块，用于获取所述电磁波信号经设置有透光屏蔽薄膜的窗口透射至所述金属箱体内后，在所述预设位置处的第二电场强度值，所述待测透光屏蔽薄膜的面积不小于所述光学玻璃的面积，以覆盖所述光学玻璃；

屏蔽效能计算模块，用于计算所述第一电场强度值和所述第二电场强度值的比值，作为所述待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值。

9.一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试设备，其特征在于，包括处理器，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如权利要求7所述主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试程序，所述主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试程序被处理器执行时实现如权利要求7所述主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试方法的步骤。