[发明专利]一种基于ATE的芯片测试方法在审
| 申请号： | 201811313153.6 | 申请日： | 2018-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN109633419A | 公开（公告）日： | 2019-04-16 |
| 发明（设计）人： | 颜军;赵历;唐芳福;龚永红 | 申请（专利权）人： | 珠海欧比特宇航科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 俞梁清 |
| 地址： | 519080 广东省珠*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于ATE的芯片测试方法，适于对S698PM芯片SRAM进行测试，属于集成电路测试技术领域。该方法包括如下步骤：A.使用仿真器编译芯片测试代码并进行相关配置，得到仿真配置文件；B.运行得到的仿真配置文件进行仿真，记录相关信息，得到仿真文件；C.将仿真文件转换为ATE测试机台兼容的矢量文件；D.将芯片连接至ATE测试机台，导入得到的矢量文件，启动预置的ATE测试程序并根据芯片测试规范进行相关配置；E.配置好ATE测试程序后，选择待测试项，运行ATE测试机台对SRAM进行相应测试。该方法可以快速精确地发现芯片的异常现象，提高SOC芯片测试效率，缩短测试周期，降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片测试 机台 仿真配置文件 仿真文件 矢量文件 配置 芯片 集成电路测试 测试 测试成本 测试效率 测试周期 相关信息 芯片连接 异常现象 测试项 仿真器 预置 编译 兼容 转换 记录 发现 | ||
【主权项】：
1.一种基于ATE的芯片测试方法，适于对S698PM芯片SRAM进行测试，其特征在于，包括如下步骤：A.使用仿真器编译芯片测试代码并进行相关配置，得到仿真配置文件；B.运行得到的仿真配置文件进行仿真，记录相关信息，得到仿真文件；C.将仿真文件转换为ATE测试机台兼容的矢量文件；D.将芯片连接至ATE测试机台，导入得到的矢量文件，启动预置的ATE测试程序并根据芯片测试规范进行相关配置；E.配置好ATE测试程序后，选择待测试项，运行ATE测试机台对SRAM进行相应测试。
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