[发明专利]一种基于ATE的芯片测试方法

权利要求书

1.一种基于ATE的芯片测试方法，适于对S698PM芯片SRAM进行测试，其特征在于，包括如下步骤：

A.使用仿真器编译芯片测试代码并进行相关配置，得到仿真配置文件；

B.运行得到的仿真配置文件进行仿真，记录相关信息，得到仿真文件；

C.将仿真文件转换为ATE测试机台兼容的矢量文件；

D.将芯片连接至ATE测试机台，导入得到的矢量文件，启动预置的ATE测试程序并根据芯片测试规范进行相关配置；

E.配置好ATE测试程序后，选择待测试项，运行ATE测试机台对SRAM进行相应测试。

2.根据权利要求1所述的基于ATE的芯片测试方法，其特征在于：所述步骤A包括：

编写芯片测试代码，或者导入预编写的芯片测试代码；

配置SRAM的容量值，以及相关运行参数。

3.根据权利要求1所述的基于ATE的芯片测试方法，其特征在于，所述步骤B包括：

记录仿真过程中SRAM读写数据时芯片的相关信号脚的信息值以及各信号脚相应的变化信息，其中，相关信号脚包括IO脚、电源脚和地引脚，所述IO脚包括地址信号脚、数据信号脚和片选使能信号脚。

4.根据权利要求1所述的基于ATE的芯片测试方法，其特征在于，所述步骤C包括：

获取所使用ATE测试机台的型号及其支持格式；

根据ATE测试机台的型号及其支持格式将仿真文件转换为该ATE测试机台兼容的矢量文件。

5.根据权利要求1所述的基于ATE的芯片测试方法，其特征在于，所述步骤D包括：通过转接板将芯片与ATE测试机台进行电气连接，具体为：

将芯片的各信号脚通过芯片测试座与转接板连接；

将转接板与ATE测试机台的母版连接；

导入该芯片所对应的矢量文件，使ATE测试机台能够识别并支持该芯片。

6.根据权利要求1所述的基于ATE的芯片测试方法，其特征在于，所述步骤D包括：

配置ATE测试程序的芯片测试规范，包括：引脚映射、信道映射、设定管脚值、设定工作条件、定义芯片输入时钟周期、定义芯片信号脚时间约束、确定待测参数项。

7.根据权利要求6所述的基于ATE的芯片测试方法，其特征在于，所述步骤E包括：

设定待测试芯片的内核电压、IO电压、输入/输出电压、参考电压的值，选择待测试项进行相应测试，待测试项包括：

对SRAM的直流参数测试、功能测试和交流参数测试。

8.根据权利要求7所述的基于ATE的芯片测试方法，其特征在于，对SRAM的直流参数测试，其中的直流参数包括：

内核电源动态电流Idd，内核电源静态电流Idds，IO电源静态电流Iddios，输入高/低电平漏电流I_IH/I_IL，输出高/低电平电压V_OH/V_OL，短路输出电流I_OS。

9.根据权利要求7所述的基于ATE的芯片测试方法，其特征在于，对SRAM的功能测试，包括：

设定芯片的输入时钟周期；

设定芯片信号脚时间约束；

将SRAM的功能pattern加载到ATE测试机台的存储单元；

ATE测试机台根据功能pattern提供的输入信号值给芯片提供激励信号使芯片根据激励信号执行相应的功能；

ATE测试机台将芯片输出的信号值与功能pattern中储存的输出信号值进行对比，从而对SRAM的功能进行测试。

10.根据权利要求7所述的基于ATE的芯片测试方法，其特征在于，对SRAM的交流参数测试，包括：

设定芯片的输入时钟周期；

设定芯片信号脚的时间约束；

将SRAM的功能pattern加载到ATE测试机台的存储单元，测试此时的交流参数；

所述交流参数包括：输出延时时间、片选信号输出延时时间、写使能信号输出延时时间、外部存储器读状态信号输出延时时间、数据输出延时时间、SRAM校验数据输出延时时间、外部存储器输出使能信号输出延时时间、数据输入保持时间、SRAM校验数据输入保持时间。