[发明专利]图案描绘方法、光掩模和显示装置用器件的制造方法有效
| 申请号: | 201811274621.3 | 申请日: | 2018-10-30 |
| 公开(公告)号: | CN109725487B | 公开(公告)日: | 2022-08-09 |
| 发明(设计)人: | 早瀬三千彦 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
| 主分类号: | G03F1/70 | 分类号: | G03F1/70 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明提供图案描绘方法、光掩模和显示装置用器件的制造方法。将具有符合设计的CD精度的图案转印在被转印体上。本发明提供图案描绘方法及其关联技术,通过根据规定的设计图案数据在光掩模基板上进行描绘而形成用于制造显示装置用器件的具有转印用图案的光掩模,其中,该图案描绘方法包含以下工序:束强度校正映射图形成工序,使用在光掩模基板上利用能量束进行描绘的描绘装置,在由于显示装置用器件的制造工序而产生针对设计值的CD错误时,根据预先掌握的包含CD错误的位置和错误量的、CD错误的产生倾向信息,形成用于校正CD错误的束强度校正映射图;以及描绘工序,将设计图案数据与束强度校正映射图一起使用,用描绘装置进行描绘。 | ||
| 搜索关键词: | 图案 描绘 方法 光掩模 显示装置 器件 制造 | ||
【主权项】:
1.一种图案描绘方法,其通过根据规定的设计图案数据在光掩模基板上进行描绘,形成用于制造显示装置用器件的具有转印用图案的光掩模,该图案描绘方法的特征在于,使用利用能量束在所述光掩模基板上进行描绘的描绘装置,在因所述显示装置用器件的制造工序而产生针对设计值的CD错误时,包含以下工序:束强度校正映射图形成工序,根据预先掌握的包含所述CD错误的位置和错误量的所述CD错误的产生倾向信息而形成用于校正所述CD错误的束强度校正映射图;以及描绘工序,利用所述描绘装置,一起使用所述设计图案数据和所述束强度校正映射图来进行描绘。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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