[发明专利]一种存储芯片的测试方法以及测试装置有效
| 申请号： | 201811270214.5 | 申请日： | 2018-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN109346121B | 公开（公告）日： | 2020-11-27 |
| 发明（设计）人： | 李中政;钟衍徽;龙红卫 | 申请（专利权）人： | 深圳市江波龙电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50;G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 李庆波 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区科发路8*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种存储芯片的测试方法以及测试装置，该存储芯片的测试方法包括：在待测存储芯片从工作状态切换至深度睡眠状态后，获取待测存储芯片的设定电特征参数；判断设定电特征参数是否满足预设条件；若是，则确定待测存储芯片满足测试要求。通过上述方式，能够快速高效的测出存在微破损的存储芯片，节约测试时间，减少生产成本，且提高后续需应用存储芯片的电子产品的良率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储 芯片 测试 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
1.一种存储芯片的测试方法，其特征在于，包括：在待测存储芯片从工作状态切换至深度睡眠状态后，获取所述待测存储芯片的设定电特征参数；判断所述设定电特征参数是否满足预设条件；若是，则确定所述待测存储芯片满足测试要求。
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