[发明专利]一种晶体振荡器电性能测试系统有效

专利信息
申请号: 201811172710.7 申请日: 2018-10-09
公开(公告)号: CN108957282B 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 韩艳菊;于德江;彭慧丽;郑鸿耀;苏霞;罗梦佳 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/02;G01R1/04
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 付生辉;金跃
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请实施例中提供了一种晶体振荡器电性能测试系统,该系统包括:第一电源接口,用于接入测试电源;第二电源接口,用于接入加电预热电源;多个通断切换模块,基于第一外部控制信号,连接或断开待测试晶体振荡器;选择测试模块,选择待测试晶体振荡器,并对其进行测试项目匹配;多个匹配接口,用于与外部测试仪器连接,并根据所述测试项目匹配与外部测试仪器进行信号传输。本方案通过采用计算机自动控制和多通道良好隔离的方式,实现了多种晶体振荡器的多性能参数的批量测试,并且可方便的进行测试设备及测试晶体振荡器数量的扩展,有效降低了人工操作的复杂度,提高了测试精度和测试效率。
搜索关键词: 一种 晶体振荡器 性能 测试 系统
【主权项】:
1.一种晶体振荡器电性能测试系统,其特征在于,该系统包括:第一电源接口,用于接入测试电源;第二电源接口,用于接入加电预热电源;多个通断切换模块,基于第一外部控制信号,连接或断开待测试晶体振荡器;选择测试模块,选择待测试晶体振荡器,并对其进行测试项目匹配;多个匹配接口,用于与外部测试仪器连接,并根据所述测试项目匹配与外部测试仪器进行信号传输。
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