[发明专利]一种晶体振荡器电性能测试系统有效

专利信息
申请号: 201811172710.7 申请日: 2018-10-09
公开(公告)号: CN108957282B 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 韩艳菊;于德江;彭慧丽;郑鸿耀;苏霞;罗梦佳 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/02;G01R1/04
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 付生辉;金跃
地址: 100854 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 晶体振荡器 性能 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种晶体振荡器电性能测试系统,其特征在于,该系统包括:

第一电源接口,用于接入测试电源;

第二电源接口,用于接入加电预热电源;

多个通断切换模块,基于第一外部控制信号,连接或断开待测试晶体振荡器;其中,所述通断切换模块包括:晶体振荡器测试位和控制开关;

所述控制开关的输出端与晶体振荡器测试位连接;

所述控制开关的第一输入端用于接入测试电源;

所述控制开关的第二输入端用于接入加电预热电源;

所述控制开关的第三输入端用于接收第一外部控制信号;

选择测试模块,选择待测试晶体振荡器,并对其进行测试项目匹配;

多个匹配接口,用于与外部测试仪器连接,并根据所述测试项目匹配与外部测试仪器进行信号传输。

2.根据权利要求1所述的晶体振荡器电性能测试系统,其特征在于,所述晶体振荡器测试位上设有用于配置晶体振荡器的转换插座。

3.根据权利要求1所述的晶体振荡器电性能测试系统,其特征在于,所述多个通断切换模块设置在待测晶振安装板上。

4.根据权利要求3所述的晶体振荡器电性能测试系统,其特征在于,所述待测晶振安装板上设有多个用于扩充通断切换模块的扩展位。

5.根据权利要求1所述的晶体振荡器电性能测试系统,其特征在于,所述选择测试模块包括:基于第二外部控制信号,选择待测试晶体振荡器的第一输出开关和基于第三外部控制信号,对选定的待测试晶体振荡器进行测试项目匹配的第二输出开关;

所述第一输出开关的多个输入端与多个通断切换模块连接;

所述第一输出开关的输出端与第二输出开关的输入端连接;

所述第二输出开关的多个输出端用于与外部设备连接。

6.根据权利要求3所述的晶体振荡器电性能测试系统,所述第一电源接口、第二电源接口和多个匹配接口设置在测试机箱上;

所述选择测试模块设置在测试机箱内;和/或,所述待测晶振安装板通过推拉结构设置在测试机箱内。

7.根据权利要求1所述的晶体振荡器电性能测试系统,其特征在于,该系统还包括:控制计算机,用于向多个通断切换模块和选择测试模块发送外部控制信号。

8.根据权利要求1或7所述的晶体振荡器电性能测试系统,其特征在于,该系统还包括:第一电源和第二电源;所述第一电源通过数字万用表与第一电源接口连接;第二电源与所述第二电源接口连接。

9.根据权利要求1或7所述的晶体振荡器电性能测试系统,其特征在于,该系统还包括:用于测试不同性能指标的多个测试仪器;所述多个测试仪器与所述多个匹配接口连接。

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