[发明专利]一种晶体振荡器电性能测试系统

说明书

本申请实施例中提供了一种晶体振荡器电性能测试系统，该系统包括：第一电源接口，用于接入测试电源；第二电源接口，用于接入加电预热电源；多个通断切换模块，基于第一外部控制信号，连接或断开待测试晶体振荡器；选择测试模块，选择待测试晶体振荡器，并对其进行测试项目匹配；多个匹配接口，用于与外部测试仪器连接，并根据所述测试项目匹配与外部测试仪器进行信号传输。本方案通过采用计算机自动控制和多通道良好隔离的方式，实现了多种晶体振荡器的多性能参数的批量测试，并且可方便的进行测试设备及测试晶体振荡器数量的扩展，有效降低了人工操作的复杂度，提高了测试精度和测试效率。

技术领域

本申请涉及晶体振荡器测试领域，特别涉及一种能够根据需要对晶体振荡器进行不同电性能测试的系统。

背景技术

晶体振荡器是一种高稳定时间和频率基准，可广泛用于各种通信、导航和测试设备中。晶体振荡器的性能参数主要包括频率准确度、输入电流、输出功率、输出波形、谐波、相位噪声、短期稳定度、频率调节范围等。晶体振荡器的输入稳定电流、频率准确度、频率稳定度等指标，需要达到晶体振荡器的稳定时间以后，才能进行测试，通常时间较长，尤其当需要批量测试时，每只晶振顺序进行需要耗费大量的时间。同时，为了完成晶体振荡器的性能测试，大都采用人工手动的方法，将晶体振荡器的输入和输出端连接到相应的仪器设备上，并人工记录数据，测试效率低；或者使用现有的常温测试系统，通常也只能进行频率、电流、功率、波形等简单指标的测试，测试能力有限，无法实现谐波、相位噪声等更多性能的测试，且不能自动进行批量测试，测试效率受限。

发明内容

为解决上述问题之一，本申请提供了一种晶体振荡器电性能测试系统，以解决现有测试仪器只能进行单一、简单指标的测试，测试能力有限，无法实现多种性能的自由测试，且不能自动进行批量测试，测试效率受限的问题。

根据本申请实施例的第一个方面，提供了一种晶体振荡器性能测试系统，该系统包括：

第一电源接口，用于接入测试电源；

第二电源接口，用于接入加电预热电源；

多个通断切换模块，基于第一外部控制信号，连接或断开待测试晶体振荡器；

选择测试模块，选择待测试晶体振荡器，并对其进行测试项目匹配；

多个匹配接口，用于与外部测试仪器连接，并根据所述测试项目匹配与外部测试仪器进行信号传输。

本申请所述技术方案优点在于：

(1)待测试晶体振荡器通过多路开关与测试设备相连接，并通过计算机对多路开关和测试设备进行控制，避免了测试晶体振荡器的多个参数时，晶体振荡器的输出端连接电缆与多个测试设备之间的频繁切换；并通过计算机控制，自动设置测试设备的各项功能以及读取和记录测试结果，降低了人工操作的复杂程度，提高测试准确性和一致性。

(2)测试系统内可同时对多只晶体振荡器进行加电预热，当需要进行单只晶体振荡器的测试时，可以通过计算机控制利用通道开关快速切换电源和测试设备，保证加电的连续性和测试的效率。

(3)测试系统中晶振的测试电源和加电预热电源分开，可以减少预热晶体振荡器对正在进行测试的晶体振荡器的干扰。

(4)待测试晶体振荡器安装板采用推拉式结构安装在测试机箱内，便于待测试晶体振荡器的安装和拆卸。

(5)通过增加通道控制可以方便的实现晶体振荡器安装板和测试仪器的扩展。

(6)通过配置晶体振荡器结构转换插座，可以安装多种常用的晶体振荡器结构，兼容性强，使用方便。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：