[发明专利]一种Flash器件擦写寿命测试系统装置有效
| 申请号： | 201811168610.7 | 申请日： | 2018-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN109411009B | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 李春;张晓敏;刘洪卫 | 申请（专利权）人： | 西安微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 高博 |
| 地址： | 710065 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种Flash器件擦写寿命测试系统装置，受试器件测试载板经测试控制显示电路板与PC机连接，直流稳压电源分别与受试器件测试载板和测试控制显示电路板连接；受试器件测试载板上设置有测试锁紧插座，受试Flash器件安装在测试锁紧插座上，测试控制显示板生成激励信号并发送给受试Flash器件，并接收受试Flash器件的反馈响应进行判断和显示，本发明可以实现Flash擦写疲劳和稳态寿命两种可靠性试验，方案实施的成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 flash 器件 擦写 寿命 测试 系统 装置 | ||
【主权项】：
1.一种Flash器件擦写寿命测试系统装置，其特征在于，包括受试器件测试载板(1)、测试控制显示电路板(2)、直流稳压电源(3)和PC机(4)，受试器件测试载板(1)经测试控制显示电路板(2)与PC机(4)连接，直流稳压电源(3)分别与受试器件测试载板(1)和测试控制显示电路板(2)连接；受试器件测试载板(1)上设置有测试锁紧插座(5)，受试Flash器件安装在测试锁紧插座(5)上，测试控制显示板(2)生成激励信号并发送给受试Flash器件，并接收受试Flash器件的反馈响应进行判断和显示。
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