[发明专利]一种Flash器件擦写寿命测试系统装置

权利要求书

1.一种Flash器件擦写寿命测试系统装置，其特征在于，包括受试器件测试载板（1）、测试控制显示电路板（2）、直流稳压电源（3）和PC机（4），受试器件测试载板（1）经测试控制显示电路板（2）与PC机（4）连接，直流稳压电源（3）分别与受试器件测试载板（1）和测试控制显示电路板（2）连接；

受试器件测试载板（1）上设置有测试锁紧插座（5）和测试载板接口插座（6），受试Flash器件安装在测试锁紧插座（5）上，测试锁紧插座（5）对应器件电源的引脚上设置有0.01~1µF的去耦电容，测试控制显示电路板（2）生成激励信号并发送给受试Flash器件，并接收受试Flash器件的反馈响应进行判断和显示，测试控制显示电路板（2）上设置有控制显示板测试信号插座（7）、控制显示板电源插座（8）和控制显示板调试接口（9），测试载板接口插座（6）通过测试信号传输线缆（10）与控制显示板测试信号插座（7）连接，用于建立测试控制显示电路板（2）输出的测试激励信号和受试Flash器件的响应信号物理通道，测试载板接口插座（6）处对应电源输入端设置有22~47µF的滤波电容，控制显示板电源插座（8）与直流稳压电源（3）连接，控制显示板电源插座（8）用于为测试控制显示电路板（2）提供单一的电源电压，控制显示板调试接口（9）通过调试连接线缆（13）与PC机（4）连接，用于进行试验装置制备过程中的擦写疲劳试验和稳态寿命试验程序开发和调试；

测试控制显示电路板（2）包括CPU（14）、电平驱动电路（15）、LED指示灯阵列（19）、电源管理电路（16）、时钟源（17）和拨码控制开关（18），CPU（14）分别与电平驱动电路（15）、LED指示灯阵列（19）、电源管理电路（16）、时钟源（17）和拨码控制开关（18）连接，CPU（14）的GPIO接口大于等于6路，电平驱动电路（15）与控制显示板测试信号插座（7）连接，电源管理电路（16）与控制显示板电源插座（8）连接，拨码控制开关（18）与控制显示板调试接口（9）连接，CPU（14）通过电平驱动电路（15）给受试Flash器件提供激励信号，激励信号包括地址信号、数据信号、片选、输出使能和读写信号，LED指示灯阵列（19）包括多个LED指示灯，LED指示灯的正端与CPU（14）的GPIO输出引脚连接，LED指示灯的负端通过电阻接地，电平驱动电路（15）的型号为SN74ALVC245；电源管理电路（16）的型号为TPS70345，能够将控制显示板电源插座（8）输入的5V直流电进行二次转换，输出3.3V和1.2V电压；时钟源（17）的型号为ZPB5，能够给CPU（14）提供50MHz时钟信号。