[发明专利]偏光度的测量方法有效
| 申请号： | 201811165732.0 | 申请日： | 2018-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN109282969B | 公开（公告）日： | 2020-04-03 |
| 发明（设计）人： | 陈俊吉 | 申请（专利权）人： | 惠州市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 516006 广东省惠州市仲恺高新技术*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种偏光度的测量方法，其用于测量偏振片的偏光度，本发明的优点在于，采用反射式测量方法，不需要将偏振片从模组上取下后再测量偏光度，避免模组被破坏，且避免偏振片受损，影响偏振片的偏光度；另外，本发明偏光度的测量方法能够实现大批量在线监控，可操作性强。 | ||
| 搜索关键词： | 偏光 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种偏光度的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：提供一参考偏振片的反射率及一参考基板的反射率；一各向线偏振光入射至一偏振片与一基板组合形成的一模组，测量所述模组的反射率，将所述模组的反射率的最大值作为所述模组的平行反射率，将所述模组的反射率的最小值作为所述模组的正交反射率；根据所述参考偏振片的反射率、所述参考基板的反射率、所述模组的平行反射率及所述模组的正交反射率计算所述偏振片的偏光度。
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