[发明专利]偏光度的测量方法

权利要求书

1.一种偏光度的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

提供一参考偏振片的反射率及一参考基板的反射率；

一各向线偏振光入射至一偏振片与一基板组合形成的一模组，测量所述模组的反射率，将所述模组的反射率的最大值作为所述模组的平行反射率，将所述模组的反射率的最小值作为所述模组的正交反射率；

根据所述参考偏振片的反射率、所述参考基板的反射率、所述模组的平行反射率及所述模组的正交反射率计算所述偏振片的偏光度；其中，根据公式(1)、公式(2)及公式(3)求得所述偏振片的偏光度：

R_//＝R_POL+T_//*R_G (1)

R_⊥＝R_POL+T_⊥*R_G (2)

其中，R_POL为所述参考偏振片的反射率，R_G为所述参考基板的反射率，T_//为所述偏振片的平行透光率，T_⊥为所述偏振片的正交透光率，R_//为所述模组的平行反射率，R_⊥为所述模组的正交反射率，P为所述偏振片的偏光度。

2.根据权利要求1所述的偏光度的测量方法，其特征在于，定义一标准白参考板对一光源入射光的反射率为100％，测量所述光源入射至所述标准白参考板后形成的反射光的亮度，所述光源入射在所述参考偏振片后形成的反射光的亮度与所述标准白参考板的反射光的亮度对比，得到所述参考偏振片的反射率，所述光源入射在所述参考基板后形成的反射光的亮度与所述标准白参考板的反射光的亮度对比，得到所述参考基板的反射率。

3.根据权利要求1所述的偏光度的测量方法，其特征在于，将所述各向线偏振光入射在一标准白参考板后形成的反射光的亮度作为100％反射率，所述各向线偏振光入射在所述模组后形成的反射光的亮度与所述标准白参考板的反射光的亮度对比，得到所述模组的反射率。

4.根据权利要求2或3所述的偏光度的测量方法，其特征在于，通过一感光器测量所述参考偏振片、所述参考基板及所述模组的反射光的亮度。

5.根据权利要求1所述的偏光度的测量方法，其特征在于，一光源经一可旋转的理想偏振片产生所述各向线偏振光。

6.根据权利要求1所述的偏光度的测量方法，其特征在于，所述各向线偏振光从所述模组具有所述偏振片的一侧入射。

7.根据权利要求1所述的偏光度的测量方法，其特征在于，所述基板为薄膜晶体管基板或者彩色滤膜基板。