[发明专利]偏光度的测量方法

说明书

本发明提供一种偏光度的测量方法，其用于测量偏振片的偏光度，本发明的优点在于，采用反射式测量方法，不需要将偏振片从模组上取下后再测量偏光度，避免模组被破坏，且避免偏振片受损，影响偏振片的偏光度；另外，本发明偏光度的测量方法能够实现大批量在线监控，可操作性强。

技术领域

本发明涉及显示装置领域，尤其涉及一种偏振片的偏光度的测量方法。

背景技术

随着显示技术的进步，薄膜晶体管液晶显示器(thinfilm transistor liquidcrystal display，TFT-LCD)由于具有轻、薄、低辐射以及体积小而不占空间等优势，目前已经成为显示器市场的主力产品。

液晶显示器主要利用两片偏振片所产生的线偏光达到亮暗对比的显示效果。其主要光源由背光模组提供，其光线经过第一片偏光板后产生线偏光，随着液晶分子的排列扭转后，再透过第二片偏光板即会产生亮暗变化，最后到达观看者眼内达到显示效果。

其中，偏振片的偏光度P对其对比度K有很大影响，而偏振片的对比度会影响液晶显示器的对比光学表现。其中，偏光度P与对比度K之间存在如下关系：因此，若要检测监测液晶显示器的对比光学表现则需要对偏振片的偏光度P进行测量。而偏光度P与偏振片的平行透光率T_//及偏振片的正交透光率T_⊥存在如下关系因此，可通过测量光片的平行透光率T_//及偏振片的正交透光率T_⊥得到偏振片的偏光度P，进而可监测液晶显示器的对比光学表现。

目前，传统的测试偏振片的偏光度的方法为采用穿透式光源测量方法。具体地说，光源产生一任一方向的线偏振光，所述线偏振光穿过待测试的偏振片，测量所述待测试的偏振片的平行透光率T_//及偏振片的正交透光率T_⊥，从而可得到所述待测试的偏振片的偏光度，进而可检测液晶显示器的对比光学表现。传统的方法的缺点在于，在测试之前，需要将待测试的偏振片从TFT基板或者CF基板上取下进行测试，在取下过程中偏振片会产生变形，影响偏光度的测量结果，且该种方法为破坏性测量，无法大量线上监控。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，提供一种偏光度的测量方法，其不需要将偏振片从模组上取下后再测量偏光度，避免模组被破坏，且避免偏振片受损，影响偏振片的偏光度。

为了解决上述问题，本发明提供了一种偏光度的测量方法，包括如下步骤：提供一参考偏振片的反射率及一参考基板的反射率；一各向线偏振光入射至一偏振片与一基板组合形成的一模组，测量所述模组的反射率，将所述模组的反射率的最大值作为所述模组的平行反射率，将所述模组的反射率的最小值作为所述模组的正交反射率；根据所述参考偏振片的反射率、所述参考基板的反射率、所述模组的平行反射率及所述模组的正交反射率计算所述偏振片的偏光度。

在一实施例中，根据公式(1)、公式(2)及公式(3)求得所述偏振片的偏光度：

R_//＝R_POL+T_//*R_G (1)

R_⊥＝R_POL+T_⊥*R_G (2)

其中，R_POL为所述参考偏振片的反射率，R_G为所述参考基板的反射率，T_//为所述偏振片的平行透光率，T_⊥为所述偏振片的正交透光率，R_//为所述模组的平行反射率，R_⊥为所述模组的正交反射率，P为所述偏振片的偏光度。