[发明专利]基于Labview的芯片级ESD自动化测试系统在审
| 申请号： | 201811158868.9 | 申请日： | 2018-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN109541432A | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 赵毅强;王佩瑶;赵公元;夏显召;高曼 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/319 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 刘国威 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及模拟集成电路领域，为提出使用软件Labview采用串口通信等方式开展相关单元模块的设计，完成全自动的ESD测试系统，提高ESD测试的精度与可信度并减少测试时间。为此，本发明采用的技术方案是，基于Labview的芯片级ESD自动化测试方法，采用静电释放ESD测试板模拟实际的系统环境，芯片引脚接上拉电阻或下拉电阻模拟实际的负载情况，以晶体振荡器作为时钟源进行测试，测试引脚类型包括电源、通用输入输出GPIO引脚两种，在测试过程中需要在每一个选定引脚处施加接触放电脉冲，施加的接触放电脉冲电压从1kV直到8kV。本发明主要应用于集成电路测试场合。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片级 通用输入输出GPIO 自动化测试系统 施加 放电脉冲电压 集成电路测试 模拟集成电路 静电释放ESD 软件Labview 测试 晶体振荡器 自动化测试 测试过程 测试引脚 串口通信 单元模块 放电脉冲 上拉电阻 系统环境 下拉电阻 芯片引脚 可信度 测试板 时钟源 引脚处 引脚 电源 应用 | ||
【主权项】：
1.一种基于Labview的芯片级ESD自动化测试方法，其特征是，采用静电释放ESD测试板模拟实际的系统环境，芯片引脚接上拉电阻或下拉电阻模拟实际的负载情况，以晶体振荡器作为时钟源进行测试，测试引脚类型包括电源、通用输入输出GPIO引脚两种，在测试过程中需要在每一个选定引脚处施加接触放电脉冲，施加的接触放电脉冲电压从1kV直到8kV，每一个电压电平都进行三次注入测试，若测试级别达到上限后且没有损坏，测试将进入另一个选定的引脚。
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