[发明专利]基于Labview的芯片级ESD自动化测试系统在审
| 申请号： | 201811158868.9 | 申请日： | 2018-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN109541432A | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 赵毅强;王佩瑶;赵公元;夏显召;高曼 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/319 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 刘国威 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 芯片级 通用输入输出GPIO 自动化测试系统 施加 放电脉冲电压 集成电路测试 模拟集成电路 静电释放ESD 软件Labview 测试 晶体振荡器 自动化测试 测试过程 测试引脚 串口通信 单元模块 放电脉冲 上拉电阻 系统环境 下拉电阻 芯片引脚 可信度 测试板 时钟源 引脚处 引脚 电源 应用 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于Labview的芯片级ESD自动化测试方法，其特征是，采用静电释放ESD测试板模拟实际的系统环境，芯片引脚接上拉电阻或下拉电阻模拟实际的负载情况，以晶体振荡器作为时钟源进行测试，测试引脚类型包括电源、通用输入输出GPIO引脚两种，在测试过程中需要在每一个选定引脚处施加接触放电脉冲，施加的接触放电脉冲电压从1kV直到8kV，每一个电压电平都进行三次注入测试，若测试级别达到上限后且没有损坏，测试将进入另一个选定的引脚。
2.如权利要求1所述的基于Labview的芯片级ESD自动化测试方法，其特征是，具体测试流程如下：首先对芯片引脚施加正向的1kV脉冲，连续施加三次，如果芯片仍正常工作，则再进行三次负向的静电击穿，记录该结果，以此类推从1kV增加静电脉冲等级，若芯片在5kV时出现问题，则记录5kV时最坏的击穿结果，且停止6kV、7kV、8kV的测试，直接记录为芯片已失效，选取其他的芯片继续进行测试。
3.如权利要求1所述的基于Labview的芯片级ESD自动化测试方法，其特征是，借助于串行总线控制仪器、虚拟仪器软件架构VISA模块、仪器驱动模块和仪器功能模块进行测试。
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