[发明专利]一种阵列基板的制造方法、阵列基板及显示面板有效
| 申请号: | 201811021331.8 | 申请日: | 2018-09-03 |
| 公开(公告)号: | CN109524356B | 公开(公告)日: | 2021-08-31 |
| 发明(设计)人: | 杨凤云;卓恩宗 | 申请(专利权)人: | 重庆惠科金渝光电科技有限公司;惠科股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L27/12 |
| 代理公司: | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 | 代理人: | 邢涛 |
| 地址: | 401320 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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| 摘要: | 本发明公布了一种阵列基板的制造方法、阵列基板及显示面板。所述方法包括:通过一次光罩制程形成栅极金属层、栅极绝缘层、半导体有源层,在平行于基板的方向上,所述的半导体有源层的宽度小于所述栅极金属层的宽度;经过一次光罩制程形成第一钝化层,并在第一钝化层上形成源极金属层、漏极金属层;形成与漏极金属层导通的像素电极层。本发明相对于现有的4光罩制程来说,半导体有源层的图案是直接根据光罩图案形成的,不依赖于其他层的图案,使得使用4光罩工艺也能做出在平行于基板的方向上,半导体有源层的宽度小于所述栅极金属层的宽度的薄膜晶体管,减小了半导体有源层的宽度,显著改善掺硅层拖尾现象,从而改善残像影响,增强面板的信耐性。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 阵列 制造 方法 显示 面板 | ||
【主权项】:
1.一种阵列基板的制造方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:在基板上依次沉积第一金属基层、绝缘基层、半导体有源基层;在半导体有源基层上方通过半色调掩膜光罩进行一次曝光,在半导体有源基层上方形成栅极金属层、栅极绝缘层、半导体有源层,在平行于基板的方向上,所述的半导体有源层的宽度小于所述栅极金属层的宽度;在所述基板、所述栅极金属层、所述栅极绝缘层以及所述半导体有源层上方沉积第一钝化基层;在所述第一钝化基层上方通过第一光罩形成第一钝化层,所述第一钝化层在对应源极金属层、漏极金属层的位置处分别形成有暴露半导体有源层的过孔;所述两个过孔之间的第一钝化基层为沟道保护层;所述沟道保护层覆盖所述半导体有源层上两个过孔间没有被所述源极金属层与所述漏极金属层遮挡的部分;在所述第一钝化层上依次沉积第二金属基层及第二钝化基层;在所述第二钝化基层上涂布光阻材料层,通过第二光罩对光阻材料进行图案化处理,先以涂布的光阻材料层为保护层蚀刻出所述第二钝化层的图案,再以形成的第二钝化层的图案为保护层,通过一次湿法蚀刻将所述第二金属基层蚀刻断开,形成所述源极金属层及漏极金属层,之后,清除光阻材料层;所述源极金属层、漏极金属层分别通过过孔与半导体有源层连通;所述第二钝化层在对应漏极金属层的上方形成接触孔以暴露漏极金属层;在所述第二钝化层上沉积透明电极基层,并通过第三光罩形成像素电极层;所述像素电极层通过接触孔与所述漏极金属层连通。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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