[发明专利]一种用于芯片计数的图像处理方法

摘要

本发明公开了一种用于芯片计数的图像处理方法，通过提取X光拍摄的半导体芯片图像，进行增强对比度、阈值分割后，利用形状面积特征提取需要处理的区域；然后对预处理后的图像进行自动阈值提取出芯片背景区域；再进行增强对比度，自动阈值后提取芯片区域；通过设置单个芯片区域的平均面积，倍数关系得到出芯片的总个数，实现计数速度快，精度较高。

主权项

1.一种用于芯片计数的图像处理算法，其特征在于，包括：提取X光拍摄的半导体芯片图像，得到原图像；将所述原图像进行增强对比度处理，根据固定阈值在所述原图像中进行全局阈值分割，获得进行全局阈值分割后的图像；将所述进行全局阈值分割后的图像进行连通域联合，获得连通域联合后的图像，并对所述连通域联合后的图像进行预处理，获得预处理后的图像；根据第一阈值在所述预处理后的图像中进行全局阈值分割，获得第一图像，并从所述第一图像中获取所述原图像的背景区域；其中，所述第一阈值是由所述预处理后的图像经过第一自动阈值处理后获得；根据第二阈值在所述背景区域中进行全局阈值分割，获得第二图像，并从所述第二图像中获取所述原图像的提取区域；其中，所述第二阈值是由所述背景区域经过第二自动阈值处理后获得；根据所述提取区域中各子区域的面积，统计所述提取区域中所有所述半导体芯片的个数。