[发明专利]一种硬盘模拟热插拔测试方法、装置、终端及存储介质在审
| 申请号： | 201810927450.3 | 申请日： | 2018-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN109117335A | 公开（公告）日： | 2019-01-01 |
| 发明（设计）人： | 刘胜 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/263;G06F11/22 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人： | 刘雪萍 |
| 地址： | 250000 *** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供一种硬盘模拟热插拔测试方法、装置、终端及存储介质，所述方法包括：设置包括通电状态和断电状态的测试周期；设置所述测试周期的循环次数；根据所述测试周期和所述循环次数为硬盘驱动供电；通过在通电状态下采集硬盘电压信息获取硬盘状态信息。本发明操作简单，能够准确模拟硬盘的热插拔测试，无需用手拔插硬盘，不会对硬盘造成不可逆的损坏。 | ||
| 搜索关键词： | 硬盘 热插拔测试 测试周期 存储介质 通电状态 终端 电压信息 断电状态 模拟硬盘 硬盘驱动 硬盘状态 不可逆 拔插 采集 供电 申请 | ||
【主权项】：
1.一种硬盘模拟热插拔测试方法，其特征在于，所述方法包括：设置包括通电状态和断电状态的测试周期；设置所述测试周期的循环次数；根据所述测试周期和所述循环次数为硬盘驱动供电；通过在通电状态下采集硬盘电压信息获取硬盘状态信息。
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