[发明专利]一种硬盘模拟热插拔测试方法、装置、终端及存储介质在审

专利信息
申请号: 201810927450.3 申请日: 2018-08-15
公开(公告)号: CN109117335A 公开(公告)日: 2019-01-01
发明(设计)人: 刘胜 申请(专利权)人: 浪潮电子信息产业股份有限公司
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26;G06F11/263;G06F11/22
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 刘雪萍
地址: 250000 *** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 硬盘 热插拔测试 测试周期 存储介质 通电状态 终端 电压信息 断电状态 模拟硬盘 硬盘驱动 硬盘状态 不可逆 拔插 采集 供电 申请
【权利要求书】:

1.一种硬盘模拟热插拔测试方法,其特征在于,所述方法包括:

设置包括通电状态和断电状态的测试周期;

设置所述测试周期的循环次数;

根据所述测试周期和所述循环次数为硬盘驱动供电;

通过在通电状态下采集硬盘电压信息获取硬盘状态信息。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述设置包括通电状态和断电状态的测试周期包括:

设置所述通电状态的通电持续时间;

设置所述断电状态的断电持续时间。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述按照测试周期和所述循环次数为硬盘驱动供电包括:

对应测试周期内的通电状态为硬盘驱动供电并在测试周期内的断电状态停止为硬盘驱动供电;

根据所述循环次数循环对硬盘驱动执行所述测试周期的供电状态。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过采集所述硬盘驱动通电状态下的硬盘电压获取硬盘状态信息包括:

在通电状态下采集硬盘电压信息并保存所述电压信息;

判断所述硬盘在不同测试周期的电压信息是否一致:

是,则判定所述硬盘正常;

否,则判定所述硬盘异常。

5.一种硬盘模拟热插拔测试装置,其特征在于,所述装置包括:

周期设置单元,配置用于设置包括通电状态和断电状态的测试周期;

次数设置单元,配置用于设置所述测试周期的循环次数;

供电执行单元,配置用于根据所述测试周期和所述循环次数为硬盘驱动供电;

电压采集单元,配置用于通过在通电状态下采集硬盘电压信息获取硬盘状态信息。

6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述周期设置单元包括:

通电设置模块,配置用于设置所述通电状态的通电持续时间;

断电设置模块,配置用于设置所述断电状态的断电持续时间。

7.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述供电执行模块包括:

周期执行模块,配置用于对应测试周期内的通电状态为硬盘驱动供电并在测试周期内的断电状态停止为硬盘驱动供电;

循环执行模块,配置用于根据所述循环次数循环对硬盘驱动执行所述测试周期的供电状态。

8.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述电压采集单元包括:

电压采集模块,配置用于在通电状态下采集硬盘电压信息并保存所述电压信息;

电压比对模块,配置用于判断所述硬盘在不同测试周期的电压信息是否一致;

正常判定模块,配置用于根据比对结果判定所述硬盘正常;

异常判定模块,配置用于根据比对结果判定所述硬盘异常。

9.一种终端,其特征在于,包括:

处理器;

用于存储处理器的执行指令的存储器;

其中,所述处理器被配置为执行权利要求1-4任一项所述的方法。

10.一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-4中任一项所述的方法。

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