[发明专利]一种硬盘模拟热插拔测试方法、装置、终端及存储介质

说明书

本申请实施例提供一种硬盘模拟热插拔测试方法、装置、终端及存储介质，所述方法包括：设置包括通电状态和断电状态的测试周期；设置所述测试周期的循环次数；根据所述测试周期和所述循环次数为硬盘驱动供电；通过在通电状态下采集硬盘电压信息获取硬盘状态信息。本发明操作简单，能够准确模拟硬盘的热插拔测试，无需用手拔插硬盘，不会对硬盘造成不可逆的损坏。

技术领域

本发明属于硬盘性能测试技术领域，具体涉及一种硬盘模拟热插拔测试方法、装置、终端及存储介质。

背景技术

硬盘是服务器的重要部件，在硬盘的测试中，热拔插测试是业界公认的必测项目，所有的系统厂商和硬盘的部件厂商都要测试硬盘的热拔插功能，但是当前用手拔插的方法比较原始，耗费大量的人工时间，而且容易产生一些意外拔插操作导致损坏硬盘，对结果产生不必要的影响。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明提供一种硬盘模拟热插拔测试方法、装置、终端及存储介质，以解决上述技术问题。

第一方面，本申请如果一种硬盘模拟热插拔测试方法，所述方法包括：

设置包括通电状态和断电状态的测试周期；

设置所述测试周期的循环次数；

根据所述测试周期和所述循环次数为硬盘驱动供电；

通过在通电状态下采集硬盘电压信息获取硬盘状态信息。

结合第一方面，在第一方面的第一种实施方式中，所述设置包括通电状态和断电状态的测试周期包括：

设置所述通电状态的通电持续时间；

设置所述断电状态的断电持续时间。

结合第一方面，在第一方面的第二种实施方式中，所述按照测试周期和所述循环次数为硬盘驱动供电包括：

对应测试周期内的通电状态为硬盘驱动供电并在测试周期内的断电状态停止为硬盘驱动供电；

根据所述循环次数循环对硬盘驱动执行所述测试周期的供电状态。

结合第一方面，在第一方面的第三种实施方式中，所述通过采集所述硬盘驱动通电状态下的硬盘电压获取硬盘状态信息包括：

在通电状态下采集硬盘电压信息并保存所述电压信息；

判断所述硬盘在不同测试周期的电压信息是否一致：

是，则判定所述硬盘正常；

否，则判定所述硬盘异常。

第二方面，本申请实施例提供一种硬盘模拟热插拔测试装置，所述装置包括：

周期设置单元，配置用于设置包括通电状态和断电状态的测试周期；

次数设置单元，配置用于设置所述测试周期的循环次数；

供电执行单元，配置用于根据所述测试周期和所述循环次数为硬盘驱动供电；

电压采集单元，配置用于通过在通电状态下采集硬盘电压信息获取硬盘状态信息。

结合第二方面，在第二方面的第一种实施方式中，所述周期设置单元包括：

通电设置模块，配置用于设置所述通电状态的通电持续时间；

断电设置模块，配置用于设置所述断电状态的断电持续时间。

结合第二方面，在第二方面的第二种实施方式中，所述供电执行模块包括：

周期执行模块，配置用于对应测试周期内的通电状态为硬盘驱动供电并在测试周期内的断电状态停止为硬盘驱动供电；