[发明专利]半导体存储装置有效

专利信息
申请号: 201810844286.X 申请日: 2018-07-27
公开(公告)号: CN109524404B 公开(公告)日: 2023-08-04
发明(设计)人: 泽中健一 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: H01L23/367 分类号: H01L23/367;H10B41/00;H10B43/00;H10B53/00;H10B63/00
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 杨林勳
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 实施方式提供一种具备故障更少的新颖构成的半导体存储装置。实施方式的半导体存储装置例如具备壳体、电路板、存储器封装体、导热部件及凹凸区域。壳体具有壁。电路板收容于壳体内,与壁相隔而沿着壁延伸。存储器封装体设置于电路板。导热部件以压缩状态介置于壁与存储器封装体之间。凹凸区域设置于壁,且包含接触部及凹部。接触部与导热部件相接。凹部被接触部包围或位于多个接触部之间,从该接触部向离开存储器封装体的方向凹陷,且插入有导热部件。
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【主权项】:
1.一种半导体存储装置,其具备:壳体,具有壁;电路板,收容于所述壳体内,与所述壁相隔而沿着所述壁延伸;存储器封装体,设置于所述电路板;导热部件,以压缩状态介置于所述壁与所述存储器封装体之间;及凹凸区域,设置于所述壁,且包含:接触部,与所述导热部件相接;及凹部,被所述接触部包围或位于多个所述接触部之间,从该接触部向离开所述存储器封装体的方向凹陷,且插入有所述导热部件。
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