[发明专利]阵列基板及其检测方法和显示装置有效

专利信息
申请号: 201810752935.3 申请日: 2018-07-10
公开(公告)号: CN108877610B 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 陈心成 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;福州京东方光电科技有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 汪源;陈源
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种阵列基板及其检测方法和显示装置,其中该阵列基板包括:级联的若干级移位寄存器,移位寄存器具有驱动信号输出端和电压信号输入端,驱动信号输出端与对应行的栅线连接,其特征在于,阵列基板还包括:第一电压信号传输线和第二电压信号传输线;第一电压信号传输线与位于奇数级的移位寄存器的电压信号输入端连接;第二电压信号传输线与位于偶数级的移位寄存器的电压信号输入端连接。本发明的技术方案可实现对阵列基板进行GGS检测,并能够在检测出阵列基板存在栅线短路的缺陷时对栅线短路的缺陷进行修复。
搜索关键词: 阵列 及其 检测 方法 显示装置
【主权项】:
1.一种阵列基板,包括:级联的若干级移位寄存器,所述移位寄存器具有驱动信号输出端和电压信号输入端,所述驱动信号输出端与对应行的栅线连接,其特征在于,所述阵列基板还包括:第一电压信号传输线和第二电压信号传输线;所述第一电压信号传输线与位于奇数级的所述移位寄存器的所述电压信号输入端连接;所述第二电压信号传输线与位于偶数级的所述移位寄存器的所述电压信号输入端连接。
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