[发明专利]阵列基板及其检测方法和显示装置

权利要求书

1.一种阵列基板的检测方法，其特征在于，所述阵列基板包括：级联的若干级移位寄存器，所述移位寄存器具有驱动信号输出端和电压信号输入端，所述驱动信号输出端与对应行的栅线连接，所述阵列基板还包括：第一电压信号传输线和第二电压信号传输线，所述第一电压信号传输线与位于奇数级的所述移位寄存器的所述电压信号输入端连接，所述第二电压信号传输线与位于偶数级的所述移位寄存器的所述电压信号输入端连接；

所述阵列基板还包括：与所述栅线交叉设置的若干条数据线，全部所述栅线和全部所述数据线限定出若干个像素单元，所述像素单元包括：薄膜晶体管和像素电极，所述薄膜晶体管的控制极与对应的所述栅线连接，所述薄膜晶体管的第一极与对应的所述数据线连接，所述薄膜晶体管的第二极与对应的所述像素电极连接；

所述检测方法包括：

控制各级所述移位寄存器的所述驱动信号输出端和所述电压信号输入端之间导通；

在一帧内的第一预设时间段，向所述第一电压信号传输线提供处于有效电平状态的第一扫描信号，以及向所述数据线提供第一数据电压，处于奇数级的各所述移位寄存器向对应行所述栅线输出处于有效电平状态的所述第一扫描信号，以控制对应像素单元内的所述薄膜晶体管导通，所述第一数据电压通过处于导通状态的所述薄膜晶体管写入至对应的像素电极；

在一帧内的第二预设时间段，向所述第二电压信号传输线提供处于有效电平状态的第二扫描信号，以及向所述数据线提供第二数据电压，处于偶数级的各所述移位寄存器向对应行所述栅线输出处于有效电平状态的所述第二扫描信号，以控制对应像素单元内的所述薄膜晶体管导通，所述第二数据电压通过处于导通状态的所述薄膜晶体管写入至对应的像素电极，所述第二预设时间段与所述第一预设时间段的时长相等且两者不交叠，所述第二数据电压的极性与所述第一数据电压的极性相反；

在一帧结束时，检测各所述像素电极上加载的像素电压；

根据各所述像素电压判断所述阵列基板中是否存在栅线短路；其中，若存在像素电压不为所述第一数据电压和所述第二数据电压的像素电极，则判断出所述阵列基板中存在栅线短路的缺陷。

2.根据权利要求1所述的阵列基板的检测方法，其特征在于，所述阵列基板为单栅线型阵列基板或双栅线型阵列基板。

3.根据权利要求1所述的阵列基板的检测方法，其特征在于，所述第二数据电压的大小与所述第一数据电压的大小相等。

4.根据权利要求1所述的阵列基板的检测方法，其特征在于，在判断出所述阵列基板中存在栅线短路的缺陷步骤之后，还包括：

筛选出像素电压不为所述第一数据电压和所述第二数据电压的像素电极，并确定所筛选出的像素电极对应的栅线为存在短路缺陷的栅线。

5.根据权利要求4所述的阵列基板的检测方法，其特征在于，在确定存在短路缺陷的栅线的步骤之后，还包括：

利用自动光学检测设备获取存在短路缺陷的栅线的图像，并确定出短路位置。

6.根据权利要求1-5中任一所述的阵列基板的检测方法，其特征在于，在判断出所述阵列基板中存在栅线短路的缺陷步骤之后，还包括：

向所述第一电压信号传输线提供第一修复电压，并同时向所述第二电压信号传输线提供第二修复电压，处于奇数级的各所述移位寄存器向对应行所述栅线输出所述第一修复电压，处于偶数级的各所述移位寄存器向对应行所述栅线输出所述第二修复电压，所述第一修复电压与所述第二修复电压之间存在预设电压差。

7.根据权利要求6所述的阵列基板的检测方法，其特征在于，所述预设电压差的范围包括：50V～90V。