[发明专利]阵列基板及其检测方法和显示装置

说明书

本发明公开了一种阵列基板及其检测方法和显示装置，其中该阵列基板包括：级联的若干级移位寄存器，移位寄存器具有驱动信号输出端和电压信号输入端，驱动信号输出端与对应行的栅线连接，其特征在于，阵列基板还包括：第一电压信号传输线和第二电压信号传输线；第一电压信号传输线与位于奇数级的移位寄存器的电压信号输入端连接；第二电压信号传输线与位于偶数级的移位寄存器的电压信号输入端连接。本发明的技术方案可实现对阵列基板进行GGS检测，并能够在检测出阵列基板存在栅线短路的缺陷时对栅线短路的缺陷进行修复。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种阵列基板及其检测方法和显示装置。

背景技术

由于大众对显示产品的分辨率要求越来越高，导致显示面板中的布线空间越来越少，随之而来的是显示面板中的信号走线之间容易出现短路不良。例如，数据线与数据线之间短路(Data-Data Short，简称DDS)不良,数据线与栅线之间短路(Gate-Data Short，简称DGS)不良，栅线与栅线(Gate-Gate Short，简称GGS)之间短路不良。目前，在阵列基板制备工艺结束后需要对信号走线之间的短路不良进行检测，以防止不良产品进入下一工艺流程，造成更大损失。

对于采用栅极驱动芯片(Gate Driver IC)的阵列基板，该类型阵列基板上对应于各栅线均设置有相应的金属接触盘(Metal Pad)，通过设置两个短路棒(Shorting Bar)，其中一个短路棒与奇数行栅线的金属接触盘连接，另一个短路棒与偶数行栅线的金属接触盘连接，在进行GGS检测时，仅需检测该两个短路棒之间的电阻值，即可检测出阵列基板内是否存在栅线短路的缺陷。

然而，对于采用阵列栅极驱动(Gate Driver On Array简称GOA) 电路的阵列基板，由于栅极驱动电路中的各级移位寄存器直接与各行栅线连接，因此GOA型阵列基板上不存在金属接触盘，因此无法针对栅线设置短路棒，因此无法进行GGS检测。

为此，如何来对GOA型阵列基板上的栅线进行GGS检测是本领域技术人员亟需解决的技术问题。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种阵列基板及其检测方法和显示装置。

为实现上述目的，本发明提供了一种阵列基板，包括：级联的若干级移位寄存器，所述移位寄存器具有驱动信号输出端和电压信号输入端，所述驱动信号输出端与对应行的栅线连接，其特征在于，所述阵列基板还包括：第一电压信号传输线和第二电压信号传输线；

所述第一电压信号传输线与位于奇数级的所述移位寄存器的所述电压信号输入端连接；

所述第二电压信号传输线与位于偶数级的所述移位寄存器的所述电压信号输入端连接。

可选地，所述阵列基板为单栅线型阵列基板或双栅线型阵列基板。

为实现上述目的，本发明还提供了一种阵列基板的检测方法，所述阵列基板采用上述的阵列基板，所述检测方法包括：

控制各级所述移位寄存器的所述驱动信号输出端和所述电压信号输入端之间导通；

检测所述第一电压信号传输线和所述第二电压信号传输线之间的电阻值，并根据检测结果判断所述阵列基板中是否存在栅线短路的缺陷，其中当所述电阻值小于第一预设值时，则判断出所述阵列基板中存在栅线短路的缺陷。

为实现上述目的，本发明还提供了一种阵列基板的检测方法，所述阵列基板采用上述的阵列基板，所述阵列基板还包括：与所述栅线交叉设置的若干条数据线，全部所述栅线和全部所述数据线限定出若干个像素单元，所述像素单元包括：薄膜晶体管和像素电极，所述薄膜晶体管的控制极与对应的所述栅线连接，所述薄膜晶体管的第一极与对应的所述数据线连接，所述薄膜晶体管的第二极与对应的所述像素电极连接；

所述检测方法包括：