[发明专利]一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法及装置在审
| 申请号： | 201810698019.6 | 申请日： | 2018-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN108961185A | 公开（公告）日： | 2018-12-07 |
| 发明（设计）人： | 相文波;姚毅;时广军;马增婷;路建伟 | 申请（专利权）人： | 凌云光技术集团有限责任公司 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 100094 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法及装置，分别采集OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像，再根据高灰阶图像和灰尘图像，将OLED屏上的灰尘区域截取出来，并提取灰尘区域的像素及每一个像素的坐标，最后根据灰尘区域的像素及坐标，对OLED屏进行Demura检测。本申请实施例中的技术方案，提取灰尘像素及像素坐标，在后续对同一块OLED屏的不同画面进行检测时，只需要根据提取的灰尘区域对目前画面进行划分，然后对画面的灰尘区域加以屏蔽或者进行其他的Demura处理，即可避免OLED屏上的灰尘导致的OLED屏错误矫正的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 灰尘区域 像素 检测 灰尘图像 高灰阶 去除 图像 目前画面 像素坐标 截取 屏蔽 矫正 申请 采集 | ||
【主权项】：
1.一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法，其特征在于，包括：采集图像，所述图像包括OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像；根据所述图像，截取OLED屏的灰尘区域；提取所述灰尘区域的像素灰度信息，所述灰度信息包括灰尘区域的像素以及每一个像素的坐标；根据所述像素灰度信息，进行Demura检测。
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