[发明专利]一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法及装置在审
| 申请号： | 201810698019.6 | 申请日： | 2018-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN108961185A | 公开（公告）日： | 2018-12-07 |
| 发明（设计）人： | 相文波;姚毅;时广军;马增婷;路建伟 | 申请（专利权）人： | 凌云光技术集团有限责任公司 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 100094 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 灰尘区域 像素 检测 灰尘图像 高灰阶 去除 图像 目前画面 像素坐标 截取 屏蔽 矫正 申请 采集 | ||
1.一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法，其特征在于，包括：
采集图像，所述图像包括OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像；
根据所述图像，截取OLED屏的灰尘区域；
提取所述灰尘区域的像素灰度信息，所述灰度信息包括灰尘区域的像素以及每一个像素的坐标；
根据所述像素灰度信息，进行Demura检测。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据图像，截取OLED屏的灰尘区域的步骤包括：
根据所述高灰阶图像，划分OLED屏区域；
根据所述灰度图像，划分全局的灰尘区域；
根据所述OLED屏区域和所述灰尘区域，截取OLED屏的灰尘区域。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述提取灰尘区域的像素灰度信息的步骤包括：
构建像素网格，形成OLED坐标系；
根据所述像素网格和所述OLED坐标系，映射所述灰尘区域；
根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素灰度信息。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素灰度信息的步骤包括：
根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素；
根据所述灰尘区域的像素和所述OLED坐标系，提取每一个像素的坐标。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述像素灰度信息，进行Demura检测的步骤包括：
测量OLED屏上每一个像素的亮度数据；
根据所述亮度数据和所述像素灰度信息，调整每一个像素点的亮度，以使所有像素点灰度一致，从而消除色斑。
6.一种Demura检测中去除灰尘干扰的装置，其特征在于，包括：
图像采集模块，用于采集图像，所述图像包括OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像；
截取模块，用于根据所述图像，截取OLED屏的灰尘区域；
信息提取模块，用于提取所述灰尘区域的像素灰度信息，所述灰度信息包括灰尘区域的像素以及每一个像素的坐标；
检测模块，用于根据所述像素灰度信息，进行Demura检测。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述截取模块包括：
屏区域划分模块，用于根据所述高灰阶图像，划分OLED屏区域；
灰尘区域划分模块，用于根据所述灰度图像，划分全局的灰尘区域；
灰尘区域截取模块，用于根据所述OLED屏区域和所述灰尘区域，截取OLED屏的灰尘区域。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述信息提取模块包括：
网格构建模块，用于构建像素网格，形成OLED坐标系；
映射模块，用于根据所述像素网格和所述OLED坐标系，映射所述灰尘区域；
灰度信息提取模块，用于根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素灰度信息。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述灰度信息提取模块包括：
像素提取模块，用于根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素；
坐标提取模块，用于根据所述灰尘区域的像素和所述OLED坐标系，提取每一个像素的坐标。
10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述检测模块包括：
亮度测量模块，用于测量OLED屏上每一个像素的亮度数据；
像素调整模块，用于根据所述亮度数据和所述像素灰度信息，调整每一个像素点的亮度，以使所有像素点灰度一致，从而消除色斑。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于凌云光技术集团有限责任公司，未经凌云光技术集团有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810698019.6/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
