[发明专利]一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法及装置

说明书

本申请公开一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法及装置，分别采集OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像，再根据高灰阶图像和灰尘图像，将OLED屏上的灰尘区域截取出来，并提取灰尘区域的像素及每一个像素的坐标，最后根据灰尘区域的像素及坐标，对OLED屏进行Demura检测。本申请实施例中的技术方案，提取灰尘像素及像素坐标，在后续对同一块OLED屏的不同画面进行检测时，只需要根据提取的灰尘区域对目前画面进行划分，然后对画面的灰尘区域加以屏蔽或者进行其他的Demura处理，即可避免OLED屏上的灰尘导致的OLED屏错误矫正的问题。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法及装置。

背景技术

OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)屏相对于传统TFT(ThinFilm Transistor，薄膜晶体管)LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)屏，具有自发光、宽视角、响应快、柔性等特点，其中最关键是OLED屏可以逐点控制亮度，这样理论上就不存在色斑检测，而需要进行色斑修复，即Demura检测。

Demura检测的基本流程是，精确测量出OLED每个像素的亮度，将数据传递给芯片控制中心，然后通过控制电路，依据亮度数据逐点进行调整，最终达到所有像素点灰度一致，从而消除色斑。

但是，在Demura检测的图像采集过程中，如果屏幕上存在灰尘，就会对采集到的图像造成干扰，导致图像中对应灰尘区域像素亮度过暗。这种问题是由于灰尘遮挡导致的而非像素本身导致的，因此如何对灰尘进行提取以避免后续错误数据导致OLED的错误矫正是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本申请提供了一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法及装置，以解决目前Demura检测中由于灰尘的干扰导致的OLED矫正错误的问题。

一方面，本申请提供了一种Demura检测中去除灰尘干扰的方法，包括：

采集图像，所述图像包括OLED屏的高灰阶图像和灰尘图像；

根据所述图像，截取OLED屏的灰尘区域；

提取所述灰尘区域的像素灰度信息，所述灰度信息包括灰尘区域的像素以及每一个像素的坐标；

根据所述像素灰度信息，进行Demura检测。

可选的，所述根据图像，截取OLED屏的灰尘区域的步骤包括：

根据所述高灰阶图像，划分OLED屏区域；

根据所述灰度图像，划分全局的灰尘区域；

根据所述OLED屏区域和所述灰尘区域，截取OLED屏的灰尘区域。

可选的，所述提取灰尘区域的像素灰度信息的步骤包括：

构建像素网格，形成OLED坐标系；

根据所述像素网格和所述OLED坐标系，映射所述灰尘区域；

根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素灰度信息。

可选的，所述根据映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素灰度信息的步骤包括：

根据所述映射后的灰尘区域，提取所述灰尘区域的像素；

根据所述灰尘区域的像素和所述OLED坐标系，提取每一个像素的坐标。

可选的，所述根据所述像素灰度信息，进行Demura检测的步骤包括：

测量OLED屏上每一个像素的亮度数据；