[发明专利]一种多层自对准Y栅晶体管器件制造方法及晶体管器件有效

专利信息
申请号: 201810570056.9 申请日: 2018-06-05
公开(公告)号: CN108922924B 公开(公告)日: 2019-07-19
发明(设计)人: 陈胜男;许孟凯;陈智广;吴淑芳;林伟铭;林张鸿;林豪;詹智梅 申请(专利权)人: 福建省福联集成电路有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336;H01L29/423
代理公司: 福州市景弘专利代理事务所(普通合伙) 35219 代理人: 林祥翔;徐剑兵
地址: 351117 福建*** 国省代码: 福建;35
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种多层自对准Y栅晶体管器件制造方法及晶体管器件,包括步骤:在具有第一金属层、Y栅金属、第一氮化物层和第二氮化物层的外延片的上涂覆聚合物层;在聚合物层上曝光显影以在漏极金属、源极金属和Y栅顶部位置处形成开口;蚀刻去除漏极金属、源极金属和Y栅位置处的第一氮化物层。上述技术方案不仅一次形成Y栅金属和第一金属层,还会在漏极金属、源极金属的第一金属层顶部和Y栅顶部位置同时蒸镀上金属层,减少了制作工艺的步骤流程,不仅提高了效率,也降低了成本。
搜索关键词: 晶体管器件 第一金属层 氮化物层 漏极金属 源极金属 顶部位置 栅金属 自对准 多层 蚀刻 涂覆聚合物 步骤流程 聚合物层 曝光显影 上金属层 一次形成 制作工艺 外延片 位置处 蒸镀 去除 制造 开口
【主权项】:
1.一种多层自对准Y栅晶体管制造方法,其特征在于,包括如下步骤:在外延片上涂覆第一光刻胶;在第一光刻胶上曝光显影以在漏极金属、源极金属和Y栅位置处形成开口;在外延片和第一光刻胶上涂覆第二光刻胶;在第二光刻胶上曝光显影以在漏极金属、源极金属和Y栅位置处形成开口;进行金属蒸镀沉积,在Y栅位置形成Y栅金属,在漏极金属、源极金属位置形成第一金属层;蚀刻去除第一光刻胶和第二光刻胶;涂覆第一氮化物层;涂覆第三光刻胶;在第三光刻胶上曝光显影以在漏极金属、源极金属和Y栅顶部位置处形成开口;蚀刻去除漏极金属、源极金属和Y栅位置处的第一氮化物层;蚀刻去除第三光刻胶;涂覆聚合物层;在聚合物层上曝光显影以在漏极金属、源极金属和Y栅顶部位置处形成开口;涂覆第四光刻胶;在第四光刻胶上曝光显影以在漏极金属、源极金属和Y栅顶部位置处形成开口;进行金属蒸镀沉积,在Y栅顶部位置形成Y栅举高金属,在漏极金属、源极金属位置形成第二金属层;蚀刻去除第四光刻胶。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福建省福联集成电路有限公司,未经福建省福联集成电路有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810570056.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top