[发明专利]一种闪存的系统级测试方法在审
| 申请号： | 201810559206.6 | 申请日： | 2018-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN108806760A | 公开（公告）日： | 2018-11-13 |
| 发明（设计）人： | 何跃桂 | 申请（专利权）人： | 晶晨半导体（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 俞涤炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张江*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种闪存的系统级测试方法，系统级测试方法包括：步骤S1，提供一测试标志文件，并将一测试次数参数存入测试标志文件中；步骤S2，判断测试次数参数的值是否达到一预设值；若否，则转向步骤S3；若是，则结束并统计校验结果；步骤S3，对闪存的所有分区进行一次分区镜像数据校验，以及对闪存的当前系统文件进行一次文件数据校验；步骤S4，重启测试装置，并将测试次数参数的值减1并返回步骤S2；能够在测试过程中同时完成分区镜像数据校验和文件数据校验，容易形成系统级的测试成果，测试效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 闪存 系统级测试 次数参数 校验 测试标志 镜像数据 文件数据 分区 集成电路技术 测试 测试成果 测试过程 测试效率 判断测试 系统文件 校验结果 形成系统 重启测试 转向步骤 校验和 预设 返回 统计 | ||
【主权项】：
1.一种闪存的系统级测试方法，应用于一闪存；其特征在于，采用一测试装置，所述测试装置包括一分区镜像存储系统和一文件存储系统；所述分区镜像存储系统中预存有一原始镜像；所述文件存储系统中预存有具有多种预设字符个数的校验文件；所述系统级测试方法包括：步骤S1，提供一测试标志文件，并将一测试次数参数存入所述测试标志文件中；步骤S2，判断所述测试次数参数的值是否达到一预设值；若否，则转向步骤S3；若是，则结束并统计校验结果；步骤S3，对所述闪存的所有分区进行一次分区镜像数据校验，以及对所述闪存的当前系统文件进行一次文件数据校验；步骤S4，重启所述测试装置，并将所述测试次数参数的值减1并返回所述步骤S2；其中，所述步骤S3中，所述分区镜像数据校验具体为，将所述闪存中所有所述分区的当前镜像与所述原始镜像进行比对；所述步骤S3中，所述文件数据校验具体为，将所述闪存的所述当前系统文件与所述校验文件进行比对。
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