[发明专利]一种闪存的系统级测试方法在审
| 申请号： | 201810559206.6 | 申请日： | 2018-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN108806760A | 公开（公告）日： | 2018-11-13 |
| 发明（设计）人： | 何跃桂 | 申请（专利权）人： | 晶晨半导体（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 俞涤炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张江*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 闪存 系统级测试 次数参数 校验 测试标志 镜像数据 文件数据 分区 集成电路技术 测试 测试成果 测试过程 测试效率 判断测试 系统文件 校验结果 形成系统 重启测试 转向步骤 校验和 预设 返回 统计 | ||
1.一种闪存的系统级测试方法，应用于一闪存；其特征在于，采用一测试装置，所述测试装置包括一分区镜像存储系统和一文件存储系统；
所述分区镜像存储系统中预存有一原始镜像；
所述文件存储系统中预存有具有多种预设字符个数的校验文件；
所述系统级测试方法包括：
步骤S1，提供一测试标志文件，并将一测试次数参数存入所述测试标志文件中；
步骤S2，判断所述测试次数参数的值是否达到一预设值；
若否，则转向步骤S3；若是，则结束并统计校验结果；
步骤S3，对所述闪存的所有分区进行一次分区镜像数据校验，以及对所述闪存的当前系统文件进行一次文件数据校验；
步骤S4，重启所述测试装置，并将所述测试次数参数的值减1并返回所述步骤S2；
其中，所述步骤S3中，所述分区镜像数据校验具体为，将所述闪存中所有所述分区的当前镜像与所述原始镜像进行比对；
所述步骤S3中，所述文件数据校验具体为，将所述闪存的所述当前系统文件与所述校验文件进行比对。
2.根据权利要求1所述的系统级测试方法，其特征在于，预存的所述原始镜像通过对所述闪存的各个所述分区进行预读取获得。
3.根据权利要求2所述的系统级测试方法，其特征在于，所述当前镜像的获取方式具体为：
将所述原始镜像写入所述闪存的各个所述分区后，对各个所述分区进行读取并拷贝得到所述当前镜像。
4.根据权利要求1所述的系统级测试方法，其特征在于，所述分区镜像存储系统包括一第一分区镜像存储子系统和一第二分区镜像存储子系统；
所述原始镜像存储在所述第一分区镜像存储子系统中；
所述当前镜像存储在所述第二分区镜像存储子系统中。
5.根据权利要求1所述的系统级测试方法，其特征在于，所述文件存储系统包括一第一文件子系统和一第二文件子系统；
所述校验文件存储于所述第一文件子系统中；
所述当前系统文件存储于所述第二文件子系统中。
6.根据权利要求1所述的系统级测试方法，其特征在于，所述校验文件的获取方式具体为：
创建具有多种所述预设字符个数的多个源系统文件，再拷贝每个所述源系统文件形成每个所述校验文件。
7.根据权利要求1所述的系统级测试方法，其特征在于，多种所述预设字符个数包括：存储页尺寸*N、存储页尺寸*N+Z以及存储页尺寸/N+Z；
其中，N为正整数、Z为小于存储页尺寸的随机正整数。
8.根据权利要求1所述的系统级测试方法，其特征在于，统计所述校验结果后生成一校验结果报告。
9.根据权利要求8所述的系统级测试方法，其特征在于，所述校验结果报告为日志格式。
10.根据权利要求1所述的系统级测试方法，其特征在于，所述预设值为0。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晶晨半导体（上海）股份有限公司，未经晶晨半导体（上海）股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810559206.6/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
