[发明专利]一种闪存的系统级测试方法

说明书

本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种闪存的系统级测试方法，系统级测试方法包括：步骤S1，提供一测试标志文件，并将一测试次数参数存入测试标志文件中；步骤S2，判断测试次数参数的值是否达到一预设值；若否，则转向步骤S3；若是，则结束并统计校验结果；步骤S3，对闪存的所有分区进行一次分区镜像数据校验，以及对闪存的当前系统文件进行一次文件数据校验；步骤S4，重启测试装置，并将测试次数参数的值减1并返回步骤S2；能够在测试过程中同时完成分区镜像数据校验和文件数据校验，容易形成系统级的测试成果，测试效率高。

技术领域

本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种闪存的系统级测试方法。

背景技术

NAND闪存是一种比硬盘驱动器更好的存储设备，在不超过4GB的低容量应用中表现得犹为明显。随着人们持续追求功耗更低、重量更轻和性能更佳的产品，NAND被证明极具吸引力。NAND闪存是一种非易失性存储技术，即断电后仍能保存数据。它的发展目标就是降低每比特存储成本、提高存储容量。

目前市面上的一些NAND闪存产品，除了芯片级别以及坏块表对比没有更多的手段，NAND闪存作为产品给方案设计商以及原始设备制造商时就很难使用芯片界别以及对比坏块表的方式进行大批量的测试，这是因为当前NAND闪存还缺少系统级的测试手段，每一个厂商使用NAND闪存的平台不尽相同，更需系统级别的测试方法。

缺少系统测试级的测试手段，所以导致无法进行大批量对NAND闪存进行问题筛查，仅仅芯片级和驱动级很难大批量的甄别NAND闪存的坏品率以及很难甄别NAND闪存的隐藏问题。

发明内容

针对上述问题，本发明提出了一种闪存的系统级测试方法，应用于一闪存；其中，采用一测试装置，所述测试装置包括一分区镜像存储系统和一文件存储系统；

所述分区镜像存储系统中预存有一原始镜像；

所述文件存储系统中预存有具有多种预设字符个数的校验文件；

所述系统级测试方法包括：

步骤S1，提供一测试标志文件，并将一测试次数参数存入所述测试标志文件中；

步骤S2，判断所述测试次数参数的值是否达到一预设值；

若否，则转向步骤S3；若是，则结束并统计校验结果；

步骤S3，对所述闪存的所有分区进行一次分区镜像数据校验，以及对所述闪存的当前系统文件进行一次文件数据校验；

步骤S4，重启所述测试装置，并将所述测试次数参数的值减1并返回所述步骤S2；

其中，所述步骤S3中，所述分区镜像数据校验具体为，将所述闪存中所有所述分区的当前镜像与所述原始镜像进行比对；

所述步骤S3中，所述文件数据校验具体为，将所述闪存的所述当前系统文件与所述校验文件进行比对。

上述的系统级测试方法，其中，预存的所述原始镜像通过对所述闪存的各个所述分区进行预读取获得。

上述的系统级测试方法，其中，所述当前镜像的获取方式具体为：

将所述原始镜像写入所述闪存的各个所述分区后，对各个所述分区进行读取并拷贝得到所述当前镜像。

上述的系统级测试方法，其中，所述分区镜像存储系统包括一第一分区镜像存储子系统和一第二分区镜像存储子系统；

所述原始镜像存储在所述第一分区镜像存储子系统中；

所述当前镜像存储在所述第二分区镜像存储子系统中。

上述的系统级测试方法，其中，所述文件存储系统包括一第一文件子系统和一第二文件子系统；