[发明专利]一种半导体晶圆扩晶工艺有效
| 申请号: | 201810534754.3 | 申请日: | 2018-05-29 |
| 公开(公告)号: | CN108597989B | 公开(公告)日: | 2020-12-22 |
| 发明(设计)人: | 李涵;孙勇 | 申请(专利权)人: | 阜阳市恒祥生产力促进有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/67 |
| 代理公司: | 广州高炬知识产权代理有限公司 44376 | 代理人: | 洪美 |
| 地址: | 236000 安徽省阜阳市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | 本发明属于半导体封装技术领域,具体的说是一种半导体晶圆扩晶工艺,包括如下步骤:用直拉单晶制造法得到掺有杂质的硅锭;硅锭制造完成后,对硅锭进行切片得到晶圆,接着进行对晶圆磨片和倒角;晶圆磨片和倒角之后,对晶圆进行化学和超声波清洗;晶圆清洗过后,利用晶圆扩晶器进行扩晶,扩晶的同时进行贴蓝膜。本发明主要用于扩晶自动化生产,工艺流程简单不复杂,速度快且省力,芯片间距可调,扩晶后芯片间距一致,大大提高扩晶的效率和扩晶的产品质量。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 半导体 晶圆扩晶 工艺 | ||
【主权项】:
1.一种半导体晶圆扩晶工艺,其特征在于:包括如下步骤:步骤一:用直拉单晶制造法得到掺有杂质的硅锭;步骤二:步骤一中的硅锭制造完成后,对硅锭进行切片得到晶圆,接着进行对晶圆磨片和倒角;步骤三:步骤二中的晶圆磨片和倒角之后,对晶圆进行化学和超声波清洗;步骤四:步骤三中晶圆清洗过后,利用晶圆扩晶器进行扩晶,扩晶的同时进行贴蓝膜;所述步骤四中的晶圆扩晶器包括壳体(1)、伸缩气缸(2)、托盘(3)、蓝膜箱(4)、扩晶模块(5)、加热模块(6)和导正模块(7),所述的壳体(1)为圆筒形;所述的伸缩气缸(2)安装在壳体(1)上顶部;所述的托盘(3)固定安装在壳体(1)的底部;所述的蓝膜箱(4)位于壳体(1)外壁的两侧,蓝膜箱(4)用于装蓝膜;所述的扩晶模块(5)安装在伸缩气缸(2)的下端,扩晶模块(5)用于对晶圆进行扩晶;所述的加热模块(6)安装在壳体(1)的内壁上,加热模块(6)用于对晶圆进行加热;所述的导正模块(7)用于将晶圆在托盘(3)上导正使晶圆处于托盘(3)的正中心。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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