[发明专利]天线测量系统和天线测量方法在审
| 申请号： | 201810474819.X | 申请日： | 2018-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN110501670A | 公开（公告）日： | 2019-11-26 |
| 发明（设计）人： | 亚当·坦基伦 | 申请（专利权）人： | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S5/02 | 分类号： | G01S5/02 |
| 代理公司： | 11243 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 曾贤伟;许静<国际申请>=<国际公布>= |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 用于确定测量天线的空间位置的天线测量系统和方法。为此，在测量天线的环境中移动另外的天线，并且针对多个空间位置来确定测量天线与另一天线之间的传递函数。基于所确定的与空间位置相关联的传递函数，可以实现对测量天线的空间位置的精确确定。 | ||
| 搜索关键词： | 空间位置 天线 测量 传递函数 天线测量系统 关联 移动 | ||
【主权项】：
1.一种天线测量系统，包括：/n具有预定的第一矢量辐射特性的第一天线，第一天线位于未知空间位置；/n具有预定的第二矢量辐射特性的第二天线；/n天线定位结构，其用于承载所述第二天线并来回移动所述第二天线；/n测量设备，其电耦合到所述第一天线和所述第二天线，并且用于测量所述第一天线和所述第二天线之间的传递函数；以及/n处理设备，用于控制天线定位结构以将所述第二天线移动到多个预定位置，以使所述测量设备在多个预定位置中的每个预定位置处测量所述第一天线和所述第二天线之间的传递函数，并且基于所测量的所述第一天线和所述第二天线之间的传递函数来确定所述第一天线的空间位置。/n
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