[发明专利]天线测量系统和天线测量方法

说明书

用于确定测量天线的空间位置的天线测量系统和方法。为此，在测量天线的环境中移动另外的天线，并且针对多个空间位置来确定测量天线与另一天线之间的传递函数。基于所确定的与空间位置相关联的传递函数，可以实现对测量天线的空间位置的精确确定。

技术领域

本发明涉及一种天线测量系统。本发明还涉及一种天线测量方法。

背景技术

虽然原则上适用于任何无线测量系统，但下文将结合无线设备的测试来描述本发明及其潜在的问题。

随着高速无线数据通信的发展，电子设备之间通信的无线通信系统的使用不断增加。

在此类通信系统的设备的开发或生产过程中，有必要彻底测试设备是否符合通信标准和法规，尤其是无线通信标准和法规。

为了测试无线通信设备，可能有必要提供具有明确定义的电磁场的待测设备。此外，可能有必要精确测量被测设备的电磁辐射。为了精确地发射和测量电磁场，用于发射和/或接收射频信号的天线或天线系统必须位于众所周知的空间位置。因此，有必要精确确定用于测试无线通信设备的测量天线的空间位置。

在这种背景下，本发明解决的问题是提供一种天线测量系统和天线测量方法，其中测量天线的空间位置可以被精确地确定。此外，需要快速且容易地确定测量天线的空间位置。

发明内容

本发明通过具有独立权利要求的特征的天线测量系统和天线测量方法解决了这个问题。其他实施例是从属权利要求的主题。

根据第一方面，提供了一种天线测量系统。天线测量系统包括第一天线、第二天线、天线定位结构和处理设备。第一天线具有预定的第一矢量辐射特性。此外，第一天线可以位于未知的空间位置。第二天线具有预定的第二矢量辐射特性。天线定位结构用于承载第二天线。此外，天线定位结构用于移动第二天线。测量设备电耦合到第一天线和第二天线。测量设备适于测量第一天线和第二天线之间的传递函数。处理设备适于控制天线定位结构以将第二天线移动到多个预定位置，并且使测量设备在多个预定位置中的每一个处测量第一天线和第二天线之间的传递函数。此外，处理设备适于基于第一天线和第二天线之间测量的传递函数来确定第一天线的空间位置。

根据第二方面，提供了一种天线测量方法。该天线测量方法包括在未知空间位置处提供第一天线并提供第二天线。特别地，第一天线具有预定的第一矢量辐射特性，并且第二天线具有预定的第二矢量辐射特性。该方法还包括通过天线定位结构移动第二天线并且在多个预定空间位置处测量第一天线和第二天线之间的传递函数。此外，该方法包括基于测量的第一天线和第二天线之间的传递函数来确定第一天线的空间位置。

本发明基于以下事实：可以通过分析来自不同方向的信号，特别是射频信号来确定空间位置。

因此，本发明的想法是在围绕天线中的一个天线移动的同时测量两个天线之间的传递函数。这样，可以精确确定另一个固定天线的空间位置。因此，固定天线的确定的空间位置可以被考虑用于进一步的测量。

通过这种方式，可以使用非常简单的安装设备将测量天线安装在固定位置，即使这样的安装设备不能精确确定天线位置。而且，天线的精确空间位置可以在安装天线之后确定。因此，通过非常简单和便宜的测量设备可以实现对射频测量的非常精确的测量。

例如，安装在固定空间位置的第一天线可以是测量天线，用于随后测试被测设备。特别地，通过将测量天线安装在固定的空间位置处，可以至少近似地知道相应的空间位置，即具有一些不确定性。空间位置的这种不确定性可通过测量测量天线与另一天线之间的传递函数来补偿，其中可以移动另一天线以确定另一天线的多个不同空间位置处的传递函数。以这种方式，可以实现测量系统中的测量天线的空间位置和/或方位的校准。