[发明专利]天线测量系统和天线测量方法

权利要求书

1.一种天线测量系统，包括：

具有预定的第一矢量辐射特性的第一天线，第一天线位于未知空间位置；

具有预定的第二矢量辐射特性的第二天线；

天线定位结构，其用于承载所述第二天线并来回移动所述第二天线；

测量设备，其电耦合到所述第一天线和所述第二天线，并且用于测量所述第一天线和所述第二天线之间的传递函数；以及

处理设备，用于控制天线定位结构以将所述第二天线移动到多个预定位置，以使所述测量设备在多个预定位置中的每个预定位置处测量所述第一天线和所述第二天线之间的传递函数，并且基于所测量的所述第一天线和所述第二天线之间的传递函数来确定所述第一天线的空间位置。

2.根据权利要求1所述的天线测量系统，其中所述处理设备用于基于所述第一天线的估计位置来确定所述第一天线的所述空间位置。

3.根据权利要求2所述的天线测量系统，其中所述第一天线的实际位置与所述第一天线的估计位置之间的距离小于用于测量第一天线与第二天线之间的所述传递函数而使用的频率的半波长。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的天线测量系统，包括适于将所述第一天线安装在具有预定的空间不确定性的空间区域中的天线安装设备。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的天线测量系统，其中所述天线定位结构适于在圆形路径上来回移动所述第二天线。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的天线测量系统，其中所述天线定位结构适于在线性路径上来回移动所述第二天线。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的天线测量系统，其中所述第二天线包括电光探针。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的天线测量系统，其中在所述第一天线的第一参考点处指定所述第一天线的矢量辐射特性，并且在所述第二天线的第二参考点处指定所述第二天线的辐射特性。

9.根据权利要求8所述的天线测量系统，其中所述处理设备适于基于所述第一参考点和所述第二参考点来确定第一天线与第二天线之间的距离。

10.根据权利要求8或9所述的天线测量系统，其中所述第一天线的所述第一参考点对应于所述第一天线的相位中心和/或所述第二天线的所述第二参考点对应于所述第二天线的相位中心。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的天线测量系统，其中所述第一天线包括多个天线元件，并且其中所述处理设备用于确定所述多个天线元件中的每一个天线元件的空间位置。

12.根据权利要求1至11中任一项所述的天线测量系统，其中所述处理设备适于基于所述传递函数的相位测量来确定所述第一天线与所述第二天线之间的距离。

13.根据权利要求1至12中任一项所述的天线测量系统，其中所述测量设备适于通过由所述第一天线发射射频信号并通过所述第二天线接收所发射的射频信号来测量所述传递函数。

14.根据权利要求1至13中任一项所述的天线测量系统，其中所述测量设备包括矢量网络分析仪。

15.根据权利要求1至13中任一项所述的天线测量系统，包括用于容纳第一天线和第二天线的测量室。

16.根据权利要求15所述的天线测量系统，其中所述测量室包括消声室。