[发明专利]一种精密测量复合架及测量装置在审
| 申请号： | 201810450947.0 | 申请日： | 2018-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN108375359A | 公开（公告）日： | 2018-08-07 |
| 发明（设计）人： | 袁玫;张金龙;李德悦 | 申请（专利权）人： | 中铁工程设计咨询集团有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00;G01B21/02 |
| 代理公司： | 北京集智东方知识产权代理有限公司 11578 | 代理人： | 陈亚斌;关兆辉 |
| 地址： | 100055 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种精密测量复合架及测量装置，其包括：架体，其具有中空的内部；所述架体底部设有用于安装进行CPⅢ测量的基座和棱镜的第一安装位，且所述架体内部用于容纳进行CPⅢ测量的棱镜；所述架体顶部设有用于安装进行CPⅡ测量的GPS天线的第二安装位。本发明可以将将加密CPⅡ与CPⅢ的测量合二为一，在一个天窗点内即可完成两种控制点的平面测量，由此提高测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 测量装置 精密测量 棱镜 安装位 复合架 架体 控制点 测量效率 架体顶部 平面测量 天窗 体内部 中空的 加密 容纳 | ||
【主权项】：
1.一种精密测量复合架，其特征在于，包括：架体，其具有中空的内部；所述架体底部设有用于安装进行CPⅢ测量的基座和棱镜的第一安装位，且所述架体内部用于容纳进行CPⅢ测量的棱镜；所述架体顶部设有用于安装进行CPⅡ测量的GPS天线的第二安装位。
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