[发明专利]一种精密测量复合架及测量装置在审
| 申请号： | 201810450947.0 | 申请日： | 2018-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN108375359A | 公开（公告）日： | 2018-08-07 |
| 发明（设计）人： | 袁玫;张金龙;李德悦 | 申请（专利权）人： | 中铁工程设计咨询集团有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00;G01B21/02 |
| 代理公司： | 北京集智东方知识产权代理有限公司 11578 | 代理人： | 陈亚斌;关兆辉 |
| 地址： | 100055 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测量 测量装置 精密测量 棱镜 安装位 复合架 架体 控制点 测量效率 架体顶部 平面测量 天窗 体内部 中空的 加密 容纳 | ||
1.一种精密测量复合架，其特征在于，包括：架体，其具有中空的内部；
所述架体底部设有用于安装进行CPⅢ测量的基座和棱镜的第一安装位，且所述架体内部用于容纳进行CPⅢ测量的棱镜；所述架体顶部设有用于安装进行CPⅡ测量的GPS天线的第二安装位。
2.如权利要求1所述的精密测量复合架，其特征在于，所述架体侧部设有用于安装可对所述GPS天线高度进行测量的量具的第三安装位。
3.根据权利要求1所述的精密测量复合架，其特征在于，所述架体整体为矩形或正方形。
4.根据权利要求3所述的精密测量复合架，其特征在于，所述架体的四个转角处均为弧形，且所述架体内部的周面上设有弧形加强筋。
5.根据权利要求1所述的精密测量复合架，其特征在于，所述架体高度为165-175mm，宽度为120-140mm，厚度20-30mm；所述架体内部净空高度为150-160mm，宽度为115-125mm。
6.一种可同时进行CPⅡ和CPⅢ测量的测量装置，其特征在于，包括：用于进行CPⅢ测量的基座和棱镜、用于进行CPⅡ测量的GPS天线以及如权利要求2所述的精密测量复合架。
7.如权利要求6所述的测量装置，其特征在于，所述进行CPⅢ测量的基座和棱镜通过所述第一安装位可拆卸地连接；所述进行CPⅡ测量的GPS天线与所述第二安装位可拆卸地连接。
8.如权利要求7所述的测量装置，其特征在于，所述基座包括插接部，其穿过所述第一安装位后与容纳于所述架体内部的棱镜插接。
9.如权利要求6-8任一项所述的测量装置，其特征在于，所述棱镜与GPS天线所处的平面精度小于0.6mm。
10.如权利要求9所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括：可对所述GPS天线高度进行测量的量具，且所述量具与所述第三安装位可拆卸地连接。
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