[发明专利]一种精密测量复合架及测量装置在审

专利信息
申请号: 201810450947.0 申请日: 2018-05-11
公开(公告)号: CN108375359A 公开(公告)日: 2018-08-07
发明(设计)人: 袁玫;张金龙;李德悦 申请(专利权)人: 中铁工程设计咨询集团有限公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00;G01B21/02
代理公司: 北京集智东方知识产权代理有限公司 11578 代理人: 陈亚斌;关兆辉
地址: 100055 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 测量 测量装置 精密测量 棱镜 安装位 复合架 架体 控制点 测量效率 架体顶部 平面测量 天窗 体内部 中空的 加密 容纳
【说明书】:

发明公开了一种精密测量复合架及测量装置,其包括:架体,其具有中空的内部;所述架体底部设有用于安装进行CPⅢ测量的基座和棱镜的第一安装位,且所述架体内部用于容纳进行CPⅢ测量的棱镜;所述架体顶部设有用于安装进行CPⅡ测量的GPS天线的第二安装位。本发明可以将将加密CPⅡ与CPⅢ的测量合二为一,在一个天窗点内即可完成两种控制点的平面测量,由此提高测量效率。

技术领域

本发明涉及精密测量技术领域,尤其涉及一种精密测量复合架及测量装置。

背景技术

高速铁路建设完成后,在运营初期需进行精测网复测及沉降监测,为线路维修养护、线路现状评估等工作提供数据基础。在线上平面控制网建网及复测工作中,常规方法是将CPⅡ(即线路控制网)与CPⅢ(即基桩控制网)分开测量,同一段里程线路申请两次天窗点各自进行CPⅡ与CPⅢ的单独测量。但目前高速铁路线路运行日益繁忙,铁路线路长度、站点不断增多,因此,为保证正常运行,检测天窗点呈现不断减少的趋势,而上述现有检测方式中,又要以保证足够数量的天窗点为前提,两者之间存在矛盾。

发明内容

本发明针对现有技术的上述缺陷,提供一种精密测量复合架及具有该精密测量复合架的测量装置,其可以将加密CPⅡ与CPⅢ的测量合二为一,在一个天窗点内即可完成两种控制点的平面测量,由此提高测量效率。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:

一方面,提供了一种精密测量复合架,其包括:架体,其具有中空的内部;所述架体底部设有用于安装进行CPⅢ测量的基座和棱镜的第一安装位,且所述架体内部用于容纳进行CPⅢ测量的棱镜;所述架体顶部设有用于安装进行CPⅡ测量的GPS天线的第二安装位。

优选的,所述架体侧部设有用于安装可对所述GPS天线高度进行测量的量具的第三安装位。

优选的,所述架体整体为矩形或正方形。

优选的,所述架体的四个转角处均为弧形,且所述架体内部的周面上设有弧形加强筋。

优选的,所述架体高度为165-175mm,宽度为120-140mm,厚度20-30mm;所述架体内部净空高度为150-160mm,宽度为115-125mm。

另一方面,还提供一种可同时进行CPⅡ和CPⅢ测量的测量装置,其特征在于,包括:用于进行CPⅢ测量的基座和棱镜、用于进行CPⅡ测量的GPS天线以及上述精密测量复合架。

优选的,所述进行CPⅢ测量的基座和棱镜通过所述第一安装位可拆卸地连接;所述进行CPⅡ测量的GPS天线与所述第二安装位可拆卸地连接。

优选的,所述基座包括插接部,其穿过所述第一安装位后与容纳于所述架体内部的棱镜插接。

优选的,所述棱镜与GPS天线所处的平面精度小于0.6mm。

优选的,所述测量装置还包括:可对所述GPS天线高度进行测量的量具,且所述量具与所述第三安装位可拆卸地连接。

本发明技术方案的有益效果在于:

本发明中的精密测量复合架及具有该精密测量复合架的测量装置可以将加密CPⅡ与CPⅢ的测量合二为一,在一个天窗点内即可完成两种控制点的平面测量,由此节省天窗点时间的使用,同时又避免了人力、物力和财力的浪费,提高测量效率。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明,附图中:

图1是本发明实施例一中精密测量复合架的正视图;

图2是本发明实施例一中精密测量复合架的侧视图;

图3是本发明实施例一中精密测量复合架的俯视图;

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