[发明专利]固态储存装置中已抹除区块的再验证方法有效

专利信息
申请号: 201810448281.5 申请日: 2018-05-11
公开(公告)号: CN110473584B 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 郭俊纬;黄鼎筌;曾士家 申请(专利权)人: 建兴储存科技(广州)有限公司
主分类号: G11C29/04 分类号: G11C29/04
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;许志影
地址: 510663 广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种固态储存装置中已抹除区块的再验证方法,包括下列步骤:针对一选定区块发出一抹除指令至该阵列控制电路;于收到一抹除完成信息后,判断该区块是否符合一设定条件;当该选定区块符合该设定条件时,将该选定区块记录为一好的区块;以及当该选定区块未符合该设定条件时,进行一选定区块再确认程序;其中,于该选定区块再确认程序中,读取该选定区块中的数据,并根据非抹除状态的记忆胞数目来将该选定区块记录为该好的区块或者一缺陷区块。
搜索关键词: 固态 储存 装置 中已抹 区块 验证 方法
【主权项】:
1.一种固态储存装置中已抹除区块的再验证方法,其特征在于,该固态储存装置包括一界面控制电路与一非挥发性记忆体,且该非挥发性记忆体包括一阵列控制电路与一记忆胞阵列,其中已抹除区块的再验证方法,包括下列步骤:/n针对一选定区块发出一抹除指令至该阵列控制电路;/n于收到一抹除完成信息后,判断该区块是否符合一设定条件;/n当该选定区块符合该设定条件时,将该选定区块记录为一好的区块;以及/n当该选定区块未符合该设定条件时,进行一选定区块再确认程序;/n其中,于该选定区块再确认程序中,读取该选定区块中的数据,并根据非抹除状态的记忆胞数目来将该选定区块记录为该好的区块或者一缺陷区块。/n
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