[发明专利]一种可控硅检测装置以及检测方法有效
| 申请号： | 201810399017.7 | 申请日： | 2018-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN108957305B | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 戴训江 | 申请（专利权）人： | 加码技术有限公司;茂硕电源科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例公开了一种可控硅工作状态检测装置及方法，其中装置包括：驱动电路、端电压检测电路以及处理器，其中，驱动电路和检测电路都与处理器连接；驱动电路用于在处理器的控制下产生触发信号，控制双向可控硅的导通；端电压检测电路用于检测双向可控硅第一阳极与第二阳极两端的端电压，并根据端电压输出电平信号；处理器用于根据电平信号以及驱动电路是否产生触发信号，识别双向可控硅的工作状态，其中，所述工作状态包括短路状态、二极管模式以及开路状态。本发明实施例处理器通过是否产生触发双向可控硅导通的触发信号以及双向可控硅两端的端电压，可以识别出双向可控硅的工作状态，以便在双向可控硅发生故障时进行报警，保护电路安全。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 可控硅 检测 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
1.一种可控硅工作状态检测装置，其特征在于，包括：驱动电路、端电压检测电路以及处理器，其中，所述驱动电路与所述处理器连接，所述端电压检测电路与所述处理器连接；所述驱动电路用于在所述处理器的控制下产生触发信号，控制双向可控硅的导通；所述端电压检测电路用于检测所述双向可控硅第一阳极与第二阳极两端的端电压，并根据所述端电压输出电平信号；所述处理器用于根据所述电平信号以及所述驱动电路是否产生所述触发信号，识别所述双向可控硅的工作状态，其中，所述工作状态包括短路状态、二极管模式以及开路状态。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于加码技术有限公司;茂硕电源科技股份有限公司，未经加码技术有限公司;茂硕电源科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810399017.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
