[发明专利]一种可控硅检测装置以及检测方法

说明书

本发明实施例公开了一种可控硅工作状态检测装置及方法，其中装置包括：驱动电路、端电压检测电路以及处理器，其中，驱动电路和检测电路都与处理器连接；驱动电路用于在处理器的控制下产生触发信号，控制双向可控硅的导通；端电压检测电路用于检测双向可控硅第一阳极与第二阳极两端的端电压，并根据端电压输出电平信号；处理器用于根据电平信号以及驱动电路是否产生触发信号，识别双向可控硅的工作状态，其中，所述工作状态包括短路状态、二极管模式以及开路状态。本发明实施例处理器通过是否产生触发双向可控硅导通的触发信号以及双向可控硅两端的端电压，可以识别出双向可控硅的工作状态，以便在双向可控硅发生故障时进行报警，保护电路安全。

技术领域

本发明涉及电力电子技术领域，尤其涉及一种可控硅检测装置以及检测方法。

背景技术

双向可控硅等功率开关器件广泛运用于工业控制以及家电控制等控制领域。然而，如果双向可控硅等功率开关器件在发生故障时没有被快速检测到并采取正确的保护措施，会对电路中的负载造成重大损坏，例如，当使用双向可控硅对压缩机进行软启动和变速控制时，如果发生二极管失效模式，双向可控硅等效于二极管，压缩机绕组中的直流分量会通过损坏的双向可控硅造成压缩机过热而烧毁。因此，对双向可控硅等功率开关器件工作状态的实时检测具有重要的实际应用价值。

发明内容

本申请实施例提供一种可控硅工作状态检测装置及检测方法，可以实时检测出电路中双向可控硅的工作状态。

第一方面，本申请实施例提供了一种可控硅工作状态检测装置，该装置包括：驱动电路、端电压检测电路以及处理器，其中，

所述驱动电路与所述处理器连接，所述端电压检测电路与所述处理器连接；

所述驱动电路用于在所述处理器的控制下产生触发信号，控制双向可控硅的导通；

所述端电压检测电路用于检测所述双向可控硅第一阳极与第二阳极两端的端电压，并根据所述端电压输出电平信号；

所述处理器用于根据所述电平信号以及所述驱动电路是否产生所述触发信号，识别所述双向可控硅的工作状态，其中，所述工作状态包括短路状态、二极管模式以及开路状态。

其中，所述根据所述电平信号以及所述驱动电路是否产生所述触发信号，识别所述双向可控硅的工作状态，具体包括：

在所述驱动电路没有产生触发信号，且所述电平信号为高电平信号的情况下，识别所述双向可控硅处于短路状态；或者，

在所述驱动电路没有产生触发信号，且所述电平信号为方波信号的情况下，识别所述双向可控硅处于二极管模式；或者，

在所述驱动电路产生触发信号，且所述电平信号为低电平信号的情况下，识别所述双向可控硅处于开路状态。

可选地，所述装置还包括：电阻电压检测电路，所述电阻电压检测电路与所述处理器连接，用于检测所述双向可控硅所在串联支路中分流电阻两端的电阻电压，以使所述处理器根据所述电阻电压判断所述串联支路中的支路电流是否具有过零点，并根据所述电平信号、所述驱动电路是否产生所述触发信号以及所述支路电流判断所述双向可控硅的工作状态。

可选地，所述装置还包括：门极电压检测电路，所述门极电压检测电路与所述处理器连接，用于检测所述双向可控硅门极与第一阳极之间的门极电压，以使所述处理器根据所述门极电压判断所述双向可控硅所在串联支路中的支路电流是否具有过零点，并根据所述电平信号、所述驱动电路是否产生所述触发信号以及所述电路中的电流判断所述双向可控硅的工作状态。

其中，所述根据所述电平信号、所述驱动电路是否产生所述触发信号以及所述电路中的电流识别所述双向可控硅的工作状态，具体包括：

在所述驱动电路没有产生触发信号、所述电平信号为高电平信号且所述电路中的电流有过零点的情况下，识别所述双向可控硅处于短路状态；或者，