[发明专利]墨水材料的膜厚测量方法有效
申请号: | 201810373770.9 | 申请日: | 2018-04-24 |
公开(公告)号: | CN110081849B | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
发明(设计)人: | 柳开郎 | 申请(专利权)人: | 广东聚华印刷显示技术有限公司 |
主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08;H01L51/56 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 余永文 |
地址: | 510000 广东省广州市广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种墨水材料的膜厚测量方法,包括以下步骤:在玻璃基板的像素坑中逐层填充各个种类的墨水材料,制成测量基板;其中,填充后一层的墨水材料时在前一层材料的像素坑的基础上留存至少一个像素坑不填充后一层的墨水材料;在每一层填充有墨水材料的像素坑中,分别选择至少一个该层墨水材料裸露的像素坑作为该层墨水材料的测量点;对测量基板上的各个测量点进行测量,检测各个测量点测量的厚度参数,根据厚度参数计算各个种类墨水材料的膜层厚度。上述方法,能够实现在一个测量基板上测量多种墨水材料的膜层厚度,解决现有技术中测量多种墨水材料的膜厚时需要分别制备多个测量基板导致的测量效率低下的问题,提升了墨水材料膜度测量的效率。 | ||
搜索关键词: | 墨水 材料 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种墨水材料的膜厚测量方法,其特征在于,包括:在玻璃基板的像素坑中逐层填充各个种类的墨水材料,制成测量基板;其中,填充后一层的墨水材料时在前一层材料的像素坑的基础上留存至少一个像素坑不填充所述后一层的墨水材料;在每一层填充有墨水材料的像素坑中,分别选择至少一个该层墨水材料裸露的像素坑作为该层墨水材料的测量点;对所述测量基板上的各个测量点进行测量,检测各个测量点测量的厚度参数,根据所述厚度参数计算各个种类墨水材料的膜层厚度。
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