[发明专利]一种PCIE卡测试防护治具,测试架构及测试方法在审

专利信息
申请号: 201810321948.5 申请日: 2018-04-11
公开(公告)号: CN108663548A 公开(公告)日: 2018-10-16
发明(设计)人: 王世鹏 申请(专利权)人: 郑州云海信息技术有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/28
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 张亮
地址: 450000 河南省郑州市*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明提供一种PCIE卡测试防护治具,测试架构及测试方法,将待测PCIE卡插入到PCIE卡测试防护治具的插槽连接器中;将PCIE卡测试防护治具的主板连接段插置到主板PCIE插槽内;对待测PCIE卡进行测试;测试完成后,将PCIE卡测试防护治具的主板连接段从主板的PCIE插槽内拔出。PCIE卡测试防护治具与主板拔插连接,实现了保护待测PCIE卡金手指的目的,能有效防止PCIE卡的电源短路。保护PCIE卡金手指,防氧化。避免PCIE卡金手指反复插拔磨损及短路风险。
搜索关键词: 测试 治具 主板 防护 金手指 测试架构 连接段 插槽连接器 电源短路 短路 防氧化 拔插 拔出 插拔 插置 磨损
【主权项】:
1.一种PCIE卡测试防护治具,其特征在于,包括:用于供待测PCIE卡插置连接的插槽连接器(1),用于与主板连接的主板连接段以及板卡(2);插槽连接器(1)和主板连接段分别与板卡(2)连接;板卡(2)上设有连接组件;插槽连接器(1)设有PCIE连接端,主板连接段设有主板连接端;PCIE连接端通过连接组件与主板连接端电连接。
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