[发明专利]一种PCIE卡测试防护治具，测试架构及测试方法

说明书

本发明提供一种PCIE卡测试防护治具，测试架构及测试方法，将待测PCIE卡插入到PCIE卡测试防护治具的插槽连接器中；将PCIE卡测试防护治具的主板连接段插置到主板PCIE插槽内；对待测PCIE卡进行测试；测试完成后，将PCIE卡测试防护治具的主板连接段从主板的PCIE插槽内拔出。PCIE卡测试防护治具与主板拔插连接，实现了保护待测PCIE卡金手指的目的，能有效防止PCIE卡的电源短路。保护PCIE卡金手指，防氧化。避免PCIE卡金手指反复插拔磨损及短路风险。

技术领域

本发明涉及PCIE卡测试领域，尤其涉及一种PCIE卡测试防护治具，测试架构及测试方法。

背景技术

在现有技术的实验室测试或者工厂端测试中，由于要对不同的项目和不同的主板进行全方面的功能测试验证，因此需要对PCIE卡这些物料进行反复的插拔，插拔次数过多会导致其金手指磨损，时间久了就会产生接触不良甚至损坏的情况，而且插拔时候还存在导致板卡短路的风险。这样不但影响测试的正常进行，还会使PCIE卡这种贵重物品报废，造成一定的经济损失。

发明内容

为了克服上述现有技术中的不足，本发明提供一种标准PCIE卡测试防护治具，包括：用于供待测PCIE卡插置连接的插槽连接器，用于与主板连接的主板连接段以及板卡；

插槽连接器和主板连接段分别与板卡连接；

板卡上设有连接组件；

插槽连接器设有PCIE连接端，主板连接段设有主板连接端；

PCIE连接端通过连接组件与主板连接端电连接。

优选地，连接组件包括：多个连接端子；

每个连接端子设有连接引脚和连接走线；

PCIE连接端设有数量与连接引脚数量相适配的PCIE引脚；

主板连接端设有数量与连接引脚数量相适配的主板连接引脚；

连接走线一端与主板连接引脚电连接，连接走线另一端与通过连接引脚与PCIE引脚电连接。

优选地，连接组件还包括：焊盘；

焊盘固定在板卡上，连接引脚焊接在焊盘上。

优选地，主板连接段设有第一金手指插置端和第二金手指插置端；

第一金手指插置端和第二金手指插置端之间设有开口。

优选地，插槽连接器上设有定位条。

优选地，连接组件的多个连接端子中，至少一个连接端子为电源连接端子；

电源连接端子设有保险丝。

优选地，插槽连接器还设有供待测PCIE卡插置连接的PCIE插槽，

PCIE引脚布设在PCIE插槽壁上，PCIE引脚在PCIE插槽壁的布设方式与待测PCIE卡的金手指布设方式相同。

一种PCIE卡测试架构，包括：待测PCIE卡，主板以及PCIE卡测试防护治具；

待测PCIE卡设有金手指连接端；

主板设有主板PCIE插槽；

待测PCIE卡通过金手指连接端插置到PCIE卡测试防护治具的PCIE插槽内，金手指连接端的金手指与PCIE插槽壁上的PCIE引脚电连接；

PCIE卡测试防护治具的主板连接段插置到主板PCIE插槽内；

主板通过PCIE卡测试防护治具与待测PCIE卡通信连接。

一种PCIE卡测试方法，方法包括：