[发明专利]一种PCIE卡测试防护治具，测试架构及测试方法

权利要求书

1.一种PCIE卡测试防护治具，其特征在于，包括：用于供待测PCIE卡插置连接的插槽连接器(1)，用于与主板连接的主板连接段以及板卡(2)；

插槽连接器(1)和主板连接段分别与板卡(2)连接；

板卡(2)上设有连接组件；

插槽连接器(1)设有PCIE连接端，主板连接段设有主板连接端；

PCIE连接端通过连接组件与主板连接端电连接。

2.根据权利要求1所述的PCIE卡测试防护治具，其特征在于，

连接组件包括：多个连接端子；

每个连接端子设有连接引脚(5)和连接走线(7)；

PCIE连接端设有数量与连接引脚(5)数量相适配的PCIE引脚(10)；

主板连接端设有数量与连接引脚(5)数量相适配的主板连接引脚；

连接走线(7)一端与主板连接引脚电连接，连接走线(7)另一端与通过连接引脚(5)与PCIE引脚(10)电连接。

3.根据权利要求2所述的PCIE卡测试防护治具，其特征在于，

连接组件还包括：焊盘(6)；

焊盘(6)固定在板卡(2)上，连接引脚(5)焊接在焊盘(6)上。

4.根据权利要求1或2所述的PCIE卡测试防护治具，其特征在于，

主板连接段设有第一金手指插置端(3)和第二金手指插置端(4)；

第一金手指插置端(3)和第二金手指插置端(4)之间设有开口(11)。

5.根据权利要求1或2所述的PCIE卡测试防护治具，其特征在于，

插槽连接器(1)上设有定位条(8)。

6.根据权利要求2所述的PCIE卡测试防护治具，其特征在于，

连接组件的多个连接端子中，至少一个连接端子为电源连接端子(12)；

电源连接端子(12)设有保险丝(9)。

7.根据权利要求2所述的PCIE卡测试防护治具，其特征在于，

插槽连接器(1)还设有供待测PCIE卡插置连接的PCIE插槽，

PCIE引脚(10)布设在PCIE插槽壁上，PCIE引脚(10)在PCIE插槽壁的布设方式与待测PCIE卡的金手指布设方式相同。

8.一种PCIE卡测试架构，其特征在于，包括：待测PCIE卡(21)，主板(23)以及如权利要求1至7所述的PCIE卡测试防护治具(22)；

待测PCIE卡(21)设有金手指连接端；

主板(23)设有主板PCIE插槽；

待测PCIE卡(21)通过金手指连接端插置到PCIE卡测试防护治具(22)的PCIE插槽内，金手指连接端的金手指与PCIE插槽壁上的PCIE引脚(10)电连接；

PCIE卡测试防护治具(22)的主板连接段插置到主板PCIE插槽内；

主板(23)通过PCIE卡测试防护治具(22)与待测PCIE卡(21)通信连接。

9.一种PCIE卡测试方法，其特征在于，方法包括：

将待测PCIE卡插入到PCIE卡测试防护治具的插槽连接器中；

将PCIE卡测试防护治具的主板连接段插置到主板PCIE插槽内；

主板上电，对待测PCIE卡进行测试；

测试完成后，主板停电；

将PCIE卡测试防护治具的主板连接段从主板的PCIE插槽内拔出。