[发明专利]一种测试芯片内部信号眼图的测试方法及系统在审
| 申请号： | 201810280623.7 | 申请日： | 2018-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN108535631A | 公开（公告）日： | 2018-09-14 |
| 发明（设计）人： | 许晓平 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 济南诚智商标专利事务所有限公司 37105 | 代理人： | 邓东坡 |
| 地址： | 450018 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试芯片内部信号眼图的测试方法及系统，其方法包括以下步骤：S1、搭接测试平台，在待测试的芯片接收端输入参考电压信号和时钟信号以获取采样点；S2、调节时钟信号相位和参考电压信号大小以改变采样点的位置，对获取的采样点进行测试获得出现误码的边界采样点；S3、重复上一步骤获得多个边界采样点，进而连接成所述芯片内部信号的边界轮廓，得到眼高和眼宽数据以及信号模拟眼图；S4、对参考电压信号和时钟信号进行补偿，确定补偿后的眼高和眼宽数据从而获得最终的所述芯片内部信号眼图。本发明采用内部模拟测试，参数调节方便，能够较好的保证测试结果与芯片内部的实际信号一致性，提高了芯片信号眼图结果的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 采样点 内部信号 芯片 测试方法及系统 参考电压信号 测试芯片 时钟信号 眼宽数据 时钟信号相位 输入参考电压 信号一致性 测试 误码 边界轮廓 参数调节 测试平台 模拟测试 芯片信号 信号模拟 接收端 搭接 重复 保证 | ||
【主权项】：
1.一种测试芯片内部信号眼图的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、搭接测试平台，在待测试的芯片接收端输入参考电压信号和时钟信号以获取采样点；S2、调节时钟信号相位和参考电压信号大小以改变采样点的位置，对获取的采样点进行测试获得出现误码的边界采样点；S3、重复上一步骤获得多个边界采样点，进而连接成所述芯片内部信号的边界轮廓，得到眼高和眼宽数据以及信号模拟眼图；S4、对参考电压信号和时钟信号进行补偿，确定补偿后的眼高和眼宽数据从而获得最终的所述芯片内部信号眼图。
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