[发明专利]一种测试芯片内部信号眼图的测试方法及系统

权利要求书

1.一种测试芯片内部信号眼图的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1、搭接测试平台，在待测试的芯片接收端输入参考电压信号和时钟信号以获取采样点；

S2、调节时钟信号相位和参考电压信号大小以改变采样点的位置，对获取的采样点进行测试获得出现误码的边界采样点；

S3、重复上一步骤获得多个边界采样点，进而连接成所述芯片内部信号的边界轮廓，得到眼高和眼宽数据以及信号模拟眼图；

S4、对参考电压信号和时钟信号进行补偿，确定补偿后的眼高和眼宽数据从而获得最终的所述芯片内部信号眼图。

2.根据权利要求1所述的一种测试芯片内部信号眼图的测试方法，其特征在于，所述步骤S2中，信号采样点是时钟信号边沿和参考电压信号的交点。

3.根据权利要求1所述的一种测试芯片内部信号眼图的测试方法，其特征在于，所述步骤S3中，所述眼宽为时钟信号边沿建立时间和保持时间的裕度，眼高为信号幅度相对参考电压的裕度。

4.根据权利要求3所述的一种测试芯片内部信号眼图的测试方法，其特征在于，所述信号采样点位于眼高*眼宽区域内时为正确采样，信号采样点位于眼高*眼宽区域外时为误码。

5.根据权利要求1所述的一种测试芯片内部信号眼图的测试方法，其特征在于，所述参考电压信号和时钟信号由硬件电路或软件模块产生。

6.一种测试芯片内部信号眼图的测试系统，其特征在于，包括信号输入模块、采样点获取模块、误码识别模块、信号模拟眼图模块、信号补偿模块和信号眼图模块，所述信号输入模块包括参考电压信号输入单元和时钟信号输入单元，参考电压信号输入单元和时钟信号输入单元输出端分别与待测试的试芯片接收端，用于为所述芯片提供参考电压信号和时钟信号；所述采样点获取模块的输入端与芯片输出端连接以获取采样点，采样点获取模块的输出端与误码识别模块的输入端连接，误码识别模块的输出端与信号模拟眼图模块的输出端连接，通过调节时钟信号相位和参考电压信号大小以获得多个边界采样点，进而连接成所述芯片内部信号的边界轮廓得到信号模拟眼图，所述信号模拟眼图模块的补偿端连接信号补偿模块，信号模拟眼图模块的输出端连接信号眼图模块，经过信号补偿模块对参考电压信号和时钟信号进行补偿后，获得补偿后的眼高和眼宽数据，从而获得最终的所述芯片内部信号眼图。