[发明专利]清洗副产物去除方法、反应室内清洁方法及室温成膜装置有效

专利信息
申请号: 201810264470.7 申请日: 2018-03-28
公开(公告)号: CN108660434B 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 山田匠;东条行雄 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: C23C16/40 分类号: C23C16/40;C23C16/44;C23C16/455
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的目的在于提供一种高效地去除由于清洁而作为副产物生成的氟硅酸铵的清洗副产物去除方法、反应室内清洁方法及室温成膜装置。在去除对不具有加热单元的室温成膜装置的反应室内进行清洁时作为副产物生成的氟硅酸铵的清洗副产物去除方法中具有以下工序:将清洁后的所述反应室内的压力升压到规定压力的工序;向所述反应室内供给被加热到规定温度的氮气来对所述反应室内吹扫规定时间的工序,所述规定温度为所述氟硅酸铵在所述规定压力下升华的温度以上的温度;以及对所述反应室内进行排气的工序。
搜索关键词: 清洗 副产物 去除 方法 反应 室内 清洁 室温 装置
【主权项】:
1.一种清洗副产物去除方法,去除对不具有加热单元的室温成膜装置的反应室内进行清洁时作为副产物生成的氟硅酸铵,所述去除方法具有以下工序:将清洁后的所述反应室内的压力升压到规定压力的工序;向所述反应室内供给被加热到规定温度的氮气来对所述反应室内吹扫规定时间的工序,所述规定温度为所述氟硅酸铵在该规定压力下升华的温度以上的温度;以及对所述反应室内进行排气的工序。
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