[发明专利]一种太阳能电池制程追溯方法有效
| 申请号： | 201810255680.X | 申请日： | 2018-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN108538757B | 公开（公告）日： | 2020-12-01 |
| 发明（设计）人： | 沈健;刘晓兵;赵福祥;金起弘;张大荣;黄健 | 申请（专利权）人： | 韩华新能源（启东）有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/67 | 分类号： | H01L21/67;H01L31/18 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 孙仿卫;林传贵 |
| 地址： | 226200 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种太阳能电池制程追溯方法，包括以下步骤：在硅片外观和电性能检测工序设备后安装打码设备，所述打码设备使得硅片上具备识别码，在所述硅片制程的其它工序设备上安装读码设备，所述读码设备读取每个所述硅片的识别码并与当前工序的工艺参数相对应，最后将所述工序的所有数据连入制造执行系统并进行存储。本发明的一种太阳能电池制程追溯方法，通过激光刻码和读码识别系统，将硅片外观和电性能检验信息、电池制程监控信息进行有效的单一匹配，从而实现电池工艺制程信息的有效追溯。通过追溯的信息，能够掌握每一片电池原材料质量和制程工艺的情况情况。一方面，为技术改善提供方向；一方面，为电池质量打下坚实基础。提升工作效率，降低生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 太阳能电池 追溯 方法 | ||
【主权项】：
1.一种太阳能电池制程追溯方法，其特征在于，包括以下步骤：在硅片外观和电性能检测工序后安装打码设备，所述打码设备使得硅片上具备识别码，在所述硅片制程的后续工序设备上安装读码设备，所述读码设备读取每个所述硅片的识别码并与当前工序的工艺参数相对应，最后将所述工序的所有数据连入制造执行系统并进行存储。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于韩华新能源（启东）有限公司，未经韩华新能源（启东）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810255680.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种片式半导体封装装置
- 下一篇：一种在线纸护角自动识别方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
