[发明专利]芯片测试装置在审
| 申请号： | 201810251089.7 | 申请日： | 2018-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN108459179A | 公开（公告）日： | 2018-08-28 |
| 发明（设计）人： | 李康 | 申请（专利权）人： | 长江存储科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京蓝智辉煌知识产权代理事务所(普通合伙) 11345 | 代理人： | 陈红;杜秀科 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市洪山区东*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试装置，包括：底座，用于固定具有多个插脚的测试电路板；盖板，具有面积和/或深度不同的多个槽口，用于固定尺寸不同的芯片。依照本发明的芯片测试装置，利用盖板上不同尺寸的槽口固定不同尺寸的芯片封装，并且测量芯片封装的几何参数以反馈修改基座卡扣的作用力和/或插脚高度，由此降低了成本、提高了效率，并减小了应力。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片测试装置 芯片封装 盖板 槽口 插脚 测试电路板 几何参数 面积和 减小 卡扣 底座 测量 芯片 反馈 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试装置，包括：底座，用于固定具有多个插脚的测试电路板；盖板，具有面积和/或深度不同的多个槽口，用于固定尺寸不同的芯片。
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